[发明专利]电磁波检测装置以及信息获取系统

说明书

电磁波检测装置(10)具有：第一成像部(15)，对入射的电磁波进行成像；棱镜(17)，包括将从第一成像部(15)入射的电磁波射出的第一射出面即第四面(s4)；行进部(16)，沿着基准面(ss)配置有多个像素(px)，使从第四面(s4)入射至基准面(ss)的电磁波按每个像素(px)向特定的方向行进；以及第一检测部(19)，检测向特定的方向行进的电磁波。棱镜(17)在从第一成像部(15)入射且第一检测部(19)应该检测的电磁波的行进路径以外的位置设置有反射抑制部(90)，该反射抑制部(90)抑制由棱镜(17)的端面反射而引起的不需要的光向第一检测部(19)入射。

相关申请的相互参照

本申请主张2018年7月27日在日本申请的日本特愿2018-141272号的优先权，并将该在先申请的全部公开内容引入本申请用于参照。

技术领域

本发明涉及电磁波检测装置以及信息获取系统。

背景技术

在专利文献1中公开了一种装置，该装置具有将从透镜系统入射的光束向固体拍摄元件引导的棱镜。在该装置中，在透镜系统与棱镜之间设置有遮光机构，该遮光机构遮挡通过由棱镜所设定的反射光路以外的反射光路向固体拍摄元件入射的光。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开平6-59195号公报

发明内容

用于解决问题的技术方案

一个方式的电磁波检测装置，具有：成像部，对入射的电磁波进行成像；棱镜，包括将从所述成像部入射的电磁波射出的第一射出面；行进部，沿着基准面配置有多个像素，使从所述第一射出面入射至所述基准面的电磁波按每个所述像素向特定的方向行进；以及第一检测部，检测向所述特定的方向行进的电磁波。所述棱镜在从所述成像部入射且所述第一检测部应该检测的电磁波的行进路径以外的位置设置有反射抑制部，所述反射抑制部抑制由所述棱镜的端面反射而引起的不需要的光向所述第一检测部入射。

一个方式的信息获取系统，具有：上述的电磁波检测装置；以及控制部，基于所述第一检测部的电磁波的检测结果，来获取与周围相关的信息。

如上所述，将本发明的解决方案以装置和系统的方式进行说明，但本发明也能够作为包含这些的方式来实现，另外，也能够作为实质上与这些相当的方法、程序、记录有程序的存储介质来实现，这些也包含于本发明的范围。

附图说明

图1是表示包括本发明的第一实施方式的电磁波检测装置的信息获取系统的概略结构的图。

图2是表示图1所示的电磁波检测装置的概略结构的图。

图3是表示本发明的第二实施方式的电磁波检测装置的概略结构的图。

图4是表示本发明的第三实施方式的电磁波检测装置的概略结构的图。

图5是表示本发明的第四实施方式的电磁波检测装置的概略结构的图。

图6是表示本发明的第五实施方式的电磁波检测装置的概略结构的图。

图7是表示本发明的第六实施方式的电磁波检测装置的概略结构的图。

图8是表示本发明的第七实施方式的电磁波检测装置的概略结构的图。

图9是表示本发明的第八实施方式的电磁波检测装置的概略结构的图。

图10是表示本发明的第九实施方式的电磁波检测装置的概略结构的图。

图11是表示本发明的第十实施方式的电磁波检测装置的概略结构的图。

图12是表示本发明的第十一实施方式的电磁波检测装置的概略结构的图。