[发明专利]从具有不同重复时间的两个MRI图像导出的低频（1MHZ）AC电导率估计

权利要求书

1.一种在给定频率下创建解剖体积的AC电导率或电阻率的3D模型的方法，所述方法包括以下步骤：

获得所述解剖体积的第一MRI图像，所述第一MRI图像具有相关联的第一重复时间；

获得所述解剖体积的第二MRI图像，所述第二MRI图像具有与所述第一重复时间不同的相关联的第二重复时间；

针对所述解剖体积中的每个体素，计算所述第一MRI图像中对应体素的强度与所述第二MRI图像中对应体素的强度的比率IR；以及

将针对所述解剖体积中每个体素所计算的IR映射到在所述给定频率下AC电导率或电阻率的3D模型的对应体素中，其中所述给定频率低于1 MHz。

2. 根据权利要求1所述的方法，其中所述给定频率在100与300 kHz之间。

3. 根据权利要求1所述的方法，其中所述给定频率在180与220 kHz之间。

4.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一MRI图像是T1图像，并且所述第二MRI图像是T1图像。

5.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一MRI图像是T1图像，并且所述第二MRI图像是质子密度图像。

6. 根据权利要求1所述的方法，其中所述第一重复时间在400与800 ms之间，并且所述第二重复时间在2与5秒之间。

7.根据权利要求1所述的方法，其中所述解剖体积包括大脑的白质和灰质。

8.根据权利要求1所述的方法，其中AC电导率或电阻率的所述3D模型是AC电导率的3D模型。

9.一种优化放置在被试者身体上的多个电极的位置的方法，其中所述电极被用于在给定频率下在解剖体积内的目标组织中施加电场，所述方法包括以下步骤：

获得所述解剖体积的第一MRI图像，所述第一MRI图像具有相关联的第一重复时间；

获得所述解剖体积的第二MRI图像，所述第二MRI图像具有与所述第一重复时间不同的相关联的第二重复时间；

针对所述解剖体积中每个体素，计算所述第一MRI图像中对应体素的强度与所述第二MRI图像中对应体素的强度的比率IR；

将针对所述解剖体积中每个体素所计算的IR映射到在所述给定频率下电导率或电阻率的3D模型的对应体素中，其中所述给定频率低于1 MHz；

识别在所述解剖体积内的所述目标组织的位置；以及

基于在所述映射步骤中生成的在所述给定频率下的电导率或电阻率的所述3D模型以及在所述识别步骤中识别的所述目标组织的所述位置，确定针对所述电极的位置。

10. 根据权利要求9所述的方法，其中所述给定频率在100与300 kHz之间。

11. 根据权利要求9所述的方法，其中所述给定频率在180与220 kHz之间。

12.根据权利要求9所述的方法，其中所述第一MRI图像是T1图像，并且所述第二MRI图像是T1图像。

13.根据权利要求9所述的方法，其中所述第一MRI图像是T1图像，并且所述第二MRI图像是质子密度图像。

14. 根据权利要求9所述的方法，其中所述第一重复时间在400与800 ms之间，并且所述第二重复时间在2与5秒之间。

15. 根据权利要求9所述的方法，还包括以下步骤：

在所述确定步骤中确定的所述位置将所述电极附着于所述被试者的身体上；以及

在所述附着步骤之后，在所述电极之间应用电信号，以便在所述目标组织中施加所述电场。