[发明专利]电压电平和下垂事件的板载监测在审
申请号: | 201980025033.2 | 申请日: | 2019-02-27 |
公开(公告)号: | CN111954859A | 公开(公告)日: | 2020-11-17 |
发明(设计)人: | 艾米塔布赫·梅拉;达娜·G·刘易斯 | 申请(专利权)人: | 超威半导体公司 |
主分类号: | G06F1/32 | 分类号: | G06F1/32;G01R19/255;G01R19/00;G06F11/22 |
代理公司: | 上海胜康律师事务所 31263 | 代理人: | 李献忠;邱晓敏 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 压电 平和 下垂 事件 监测 | ||
1.一种方法,其包括:
通过第一检测器[130A]监测处理器[100]的第一点处的第一电压电平[212],其中所述第一检测器包括第一环形振荡器[206],并且其中所述第一检测器生成指示所述第一电压电平的第一计数[214];
将所述第一计数与第一预定阈值[216]进行比较以检测第一电压下垂状况;以及
响应于检测到所述第一电压下垂状况来调整第一时钟信号[116]的频率。
2.如权利要求1所述的方法,其还包括:响应于检测到所述第一电压下垂状况来调整第二时钟信号[118]的频率。
3.如权利要求2所述的方法,其中调整所述第二时钟信号的所述频率包括以与调整所述第一时钟频率不同的幅度调整所述第二时钟信号的所述频率。
4.如权利要求1所述的方法,其还包括:响应于检测到所述第一电压下垂状况来调整所述处理器每周期正在执行的操作的数量。
5.如权利要求1所述的方法,其还包括:
通过第二检测器[130B]监测所述处理器的第二点处的第二电压电平,其中所述第二检测器包括第二环形振荡器,并且其中所述第二检测器生成指示所述第二电压电平的第二计数;
将所述第二计数与第二预定阈值进行比较以检测第二电压下垂状况;以及
响应于检测到所述第二电压下垂状况来调整第二时钟信号的频率。
6.如权利要求5所述的方法,其中所述第一阈值不同于所述第二阈值。
7.如权利要求5所述的方法,其中调整所述第二时钟信号的所述频率包括以与调整所述第一时钟频率不同的幅度调整所述第二时钟信号的所述频率。
8.一种方法,其包括:
通过多个检测器[130]监测处理器[100]上的多个点处的电压电平,其中每个检测器包括环形振荡器[206],并且其中每个检测器生成指示所述对应的电压电平的计数[214];
将所述计数与多个预定阈值[216]进行比较以检测第一电压下垂状况;以及
基于所述第一电压下垂状况来调整多个时钟[116、118]的频率。
9.如权利要求8所述的方法,其中所述检测器以不同的幅度调整所述多个时钟中的不同时钟的所述频率。
10.如权利要求8所述的方法,其还包括:
将所述计数与所述多个预定阈值进行比较以检测第二电压下垂状况;以及
基于所述第二电压下垂状况来调整所述多个时钟的频率f。
11.如权利要求8所述的方法,其还包括:基于所述比较来减少所述处理器正在执行的操作的数量。
12.一种监测系统,其包括:
第一检测器[130A],所述第一检测器定位在处理器[100]上的第一点处,其中所述第一检测器监测第一电压电平[212],并且其中所述第一检测器包括第一环形振荡器[206],并且其中所述第一检测器生成指示所述第一电压电平的第一计数[214];
第一比较模块[208],所述第一比较模块将所述第一计数与第一预定阈值[216]进行比较以检测第一电压下垂状况;以及
第一时钟控制模块[120],其中所述第一时钟控制模块响应于所述第一比较模块检测到所述第一电压下垂状况来调整第一时钟信号[116]的频率。
13.如权利要求12所述的监测系统,其中所述第一时钟控制模块响应于所述第一比较模块检测到所述第一电压下垂状况来调整第二时钟信号[118]的频率。
14.如权利要求13所述的监测系统,其中所述第一时钟控制模块以与所述第一时钟频率不同的幅度调整所述第二时钟信号的所述频率。
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