[发明专利]在TOF质量分析仪的提取区域中动态集中离子包在审

专利信息
申请号: 201980025020.5 申请日: 2019-04-10
公开(公告)号: CN111954918A 公开(公告)日: 2020-11-17
发明(设计)人: N·G·布洛姆菲尔德;I·谢尔努舍维奇;R·豪弗莱尔 申请(专利权)人: DH科技发展私人贸易有限公司
主分类号: H01J49/06 分类号: H01J49/06;H01J49/24
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 马景辉
地址: 新加坡*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: tof 质量 分析 提取 区域 动态 集中 离子
【权利要求书】:

1.一种系统,所述系统用于在定向获取方法中操作串联质谱仪的离子引导件和飞行时间TOF质量分析仪以基于先前测得的定向产物离子的强度来在注入到TOF质量分析仪中之前动态集中或不集中具有不同质荷比m/z值的产物离子,所述系统包括:

离子源设备,所述离子源设备连续接收并离子化包含已知化合物的样品,从而产生离子束;

定义引导轴线的离子引导件,所述离子引导件接收在定向获取方法中由从所述离子束中选择的所述已知化合物的已知前驱物离子碎裂的产物离子;

在所述离子引导件下游的TOF质量分析仪,所述TOF质量分析仪接收沿着所述引导轴线从所述离子引导件喷射到所述TOF质量分析仪的提取区域中的产物离子,并且在所述定向获取方法的两个或更多个时间步骤测量所述已知前驱物离子的至少一种已知产物离子的强度,

其中,所述离子引导件适于提供离子控制场,所述离子控制场包括用于限制所述产物离子的与所述引导轴线垂直的移动的分量并且包括用于控制所述产物离子的平行于所述引导轴线的移动的分量,

其中,所述离子控制场具有沿着所述离子引导件的所述引导轴线的可控制的电势分布,所述分布能够交替地切换到连续模式或顺序模式,在所述连续模式中存在产物离子从所述离子引导件到所述TOF质量分析仪的连续喷射而不管产物离子的m/z值如何,在所述顺序模式中存在根据产物离子的m/z值的产物离子从所述离子引导件到所述TOF质量分析仪的顺序喷射,以及

其中,对于所述顺序模式,在所述产物离子通过所述离子引导件行进到所述提取区域期间,相同的离子能量被施加到所述产物离子而不管所述产物离子的m/z值如何,并且所述产物离子被以相同的离子能量从所述离子引导件顺序地释放,以使得基本上所有释放的m/z值的产物离子基本上同时到达所述提取区域内;以及

处理器,所述处理器与所述离子引导件和所述TOF质量分析仪通信,所述处理器:

最初指示所述离子引导件使用所述顺序模式喷射所述已知前驱物离子的产物离子,并且指示所述TOF质量分析仪在所述两个或更多个时间步骤中的每个时间步骤测量所述至少一种已知产物离子的强度,

如果所述至少一种已知产物离子的强度在增加并且在一时间步骤大于预定义顺序模式强度阈值,则指示所述离子引导件切换到所述连续模式,并且指示所述TOF质量分析仪在剩余的两个或更多个时间步骤中的每个时间步骤测量所述至少一种已知产物离子的m/z。

2.根据权利要求1所述的系统,其中,如果强度大于在先前时间步骤以所述顺序模式测得的所述至少一种已知产物离子的强度,则所述处理器确定强度在增加。

3.根据权利要求1所述的系统,其中,进一步地,如果所述离子引导件正在所述连续模式中喷射产物离子并且所述至少一种已知产物离子的强度在减小并且在一时间步骤小于预定义连续模式阈值,则所述处理器指示所述离子引导件切换回到所述顺序模式,并且指示所述TOF质量分析仪在剩余的两个或更多个时间步骤中的每个时间步骤测量所述至少一种已知产物离子的强度。

4.根据权利要求3所述的系统,其中,如果强度小于在先前时间步骤以所述连续模式测得的所述至少一种已知产物离子的强度,则所述处理器确定强度在减小。

5.根据权利要求1所述的系统,其中,所述处理器指示所述TOF质量分析仪在所述离子引导件处于所述顺序模式时以及在所述离子引导件处于所述连续模式时应用相同的重复率。

6.根据权利要求1所述的系统,其中,所述处理器指示所述TOF质量分析仪使用相同的TOF质量分析仪校准系数在所述离子引导件处于所述顺序模式时以及在所述离子引导件处于所述连续模式时测量所述至少一种已知产物离子的强度。

7.根据权利要求1所述的系统,其中,如果强度是使用所述顺序模式测得的,则所述处理器还将所述强度归一化为在所述连续模式中等效测得的强度。

8.根据权利要求1所述的系统,其中,如果强度是使用所述连续模式测得的,则所述处理器还将所述强度归一化为在所述顺序模式中等效测得的强度。

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