[实用新型]一种金属异物探测系统

说明书

本实用新型涉及塑料薄膜生产加工设备技术领域，具体涉及一种金属异物探测系统，包括第一机架、第二机架、第一控制器、第二控制器以及中转卷轴，中转卷轴设置在第一机架的输送末端与第二机架的输送首端之间，中转卷轴在第一机架上时用于将薄膜生产设备出料端的薄膜收卷，收卷的同时第一机架上的金属检测器对薄膜进行检测并根据第一计米器将位置参数记录，中转卷轴在第二机架上时用于将检测过的薄膜放卷，并由清扫机构进行异物清理，一个第一机架可搭配多个第二机架，检测和处理分开处理，保证生产效率。

技术领域

本实用新型涉及塑料薄膜生产加工设备技术领域，具体涉及一种金属异物探测系统。

背景技术

金检机是金属检测机的简称，主要是专业人士对他的简称，金属检测机用于检测食品、医药、化妆品等生产过程中混入的金属异物。在金检机检测金属的过程中，利用金检探头对输送产品进行探测，金检机上金属检测器的原理是一条中央发射线圈和两个对等的接收线圈，这三个线圈装在一个探测头中。振荡器通过中间的发射线圈发射出一个高频磁场，与两个接收线圈相连，但极性相反，在磁场不受外界干扰的情况下，它们产生的电压输出信号相互抵消。一旦金属杂质进入磁场区域，就会破坏这种平衡，金属检测机就能检测到金属的存在。

在塑料薄膜生产过程中，原料中可能混杂有未被清除的金属颗粒，导致薄膜产品上粘附金属颗粒，影响产品的后期使用，现有的大多数生产都是在薄膜生产过程中直接进行检测和处理的，由于塑料薄膜容易损坏，清扫设备动作不宜过大，而设备断续运行会影响机器寿命，因此大多采用的是降低出料速度的方式，这影响了生产效率。

实用新型内容

为解决上述问题，本实用新型提供了一种用于薄膜生产的金属探测装置，包括第一机架、第二机架、第一控制器、第二控制器以及中转卷轴，中转卷轴设置在第一机架的输送末端与第二机架的输送首端之间，中转卷轴在第一机架上时用于将薄膜生产设备出料端的薄膜收卷，收卷的同时第一机架上的金属检测器对薄膜进行检测并根据第一计米器将位置参数记录，中转卷轴在第二机架上时用于将检测过的薄膜放卷，并由清扫机构进行异物清理，一个第一机架可搭配多个第二机架，检测和处理分开处理，保证生产效率。

本实用新型为解决上述问题提供的是一种金属异物探测系统，包括第一机架、第二机架、第一控制器、第二控制器以及中转卷轴，所述第一机架设置在薄膜生产设备的出料端以承接和输送薄膜，第一机架上设置有第一计米器和金属检测器，第一计米器和金属检测器均与第一控制器连接以对第一机架上薄膜进行检测并记录金属异物的位置；所述中转卷轴设置在第一机架的输送末端和第二机架的输送首端之间，以将从第一机架上的薄膜收卷并在第二机架上进行放卷，第二机架的输送末端设置有用于收卷第二机架上薄膜的复卷轴，第二机架上设置有第二计米器和清扫机构，第二计米器和清扫机构均与第二控制器连接，第二控制器与第一控制器电连接，以根据第一控制器上的位置数据控制清扫机构对第二机架上的薄膜进行清扫。

作为本实用新型一种金属异物探测系统的进一步方案，所述第一机架上设置有录像机，录像机的控制开关与第一控制器连接以根据金属检测器的检测结果进行录制，第二机架上设置有显示屏，显示屏与第二控制器连接，以根据第一控制器存储的位置数据播放录制的视频信息。

作为本实用新型一种金属异物探测系统的进一步方案，所述第一机架上设置有龙门形的第一支架，金属检测器安装在第一支架上，第一支架的侧面安装有第一激光灯，第一激光灯与第一控制器连接并且第一激光灯的灯光束与第一支架的输送方向垂直；所述第二机架上设置有龙门形的第二支架，录像机和清扫机构均安装在第二支架上，第二支架的侧面安装有第二激光灯，第二激光灯与第二控制器连接并且第二激光灯的灯光束与第二支架的输送方向垂直。

作为本实用新型一种金属异物探测系统的进一步方案，所述清扫机构通过纵向设置的气缸安装在第二机架上，清扫包括设置在安装板上的刮板和扫辊，所述刮板为两个并且呈八字形交错固定在安装板的底面，以将薄膜上的金属颗粒向两侧刮动，所述扫辊的表面设置有毛刷，两个扫辊分别与两个刮板平行。