[实用新型]一种具有导向机构的芯片测试座有效
| 申请号: | 201921563616.4 | 申请日: | 2019-09-19 |
| 公开(公告)号: | CN211148718U | 公开(公告)日: | 2020-07-31 |
| 发明(设计)人: | 杨晓华;石光普;史先映 | 申请(专利权)人: | 苏州英世米半导体技术有限公司 |
| 主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 215000 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 具有 导向 机构 芯片 测试 | ||
1.一种具有导向机构的芯片测试座,其特征在于,包括上下配合使用的测试座本体以及导向板,所述导向板安装在测试设备上;所述测试座本体包括上下配合的基盖和基座,所述基盖中心开设有基盖通孔;所述导向板包括导向板本体,所述导向板本体中心开设有导向通槽;所述导向板本体的投影面积大于所述基盖通孔的投影面积;所述导向板本体的下表面围绕所述导向通槽的四周向下延伸有导向机构,所述导向机构的投影面积小于所述基盖通孔的投影面积;所述导向机构包括相对设置的前壁和后壁以及相对设置的两个侧壁;所述前壁和所述后壁上设置有若干第一导向面;两个所述侧壁上设置有若干第二导向面和挤压器让位槽;所述第一导向面和所述第二导向面由上到下向内倾斜设置。
2.根据权利要求1所述的一种具有导向机构的芯片测试座,其特征在于,所述导向通槽的侧壁为竖直平面,所述导向通槽的投影面积大于待测芯片的投影面积。
3.根据权利要求1所述的一种具有导向机构的芯片测试座,其特征在于,所述导向通槽的侧壁为倾斜面,所述倾斜面由上到下向内倾斜设置;且所述导向通槽下端面的投影面积大于待测芯片的投影面积。
4.根据权利要求1所述的一种具有导向机构的芯片测试座,其特征在于,两个所述第一导向面的下端之间的距离大于待测芯片的长度;所述第二导向面的下端之间的距离大于待测芯片的宽度。
5.根据权利要求1所述的一种具有导向机构的芯片测试座,其特征在于,所述挤压器让位槽由所述侧壁的下端向上延伸至所述导向通槽的侧壁中部。
6.根据权利要求1至5任一所述的一种具有导向机构的芯片测试座,其特征在于,所述前壁与两个所述侧壁的连接处、所述后壁与两个所述侧壁的连接处设置有散热孔;所述散热孔由所述导向板本体的上端面向下延伸。
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