[实用新型]一种XRD制样夹具

说明书

本实用新型公开了一种XRD制样夹具，包括第一主体和第二主体，所述第一主体设置有样品台，所述第二主体设置有安装孔，所述样品台与所述安装孔螺纹连接，所述安装孔的端面设置有载玻片，所述样品台的顶面和所述载玻片之间形成一样品容置腔。与现有技术相比，本实用新型通过螺纹调节控制样品容置腔的深度，解决了样品表面与样品槽高度不一致和样品质量较少无法填充样品槽的问题，同时，由于样品和载玻片刚好接触吻合，避免了样品可能出现弯折起伏的问题。

技术领域

本实用新型涉及X射线衍射仪测试领域，特别是一种XRD制样夹具。

背景技术

XRD技术是一种利用X射线对材料进行衍射，通过分析衍射图谱可以获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息，由此可以确定晶体的结构。由于XRD表征的是内部微观结构，所以对于XRD的制样要求较为严格，常规地，XRD的制样要求为粉末状。

而在锂电行业中，正负极极片的结构需要对其微观结构进行结构的表征，通过测试XRD可以实现此目的及根据数据计算相关晶体学参数。但极片测试并不同于粉末，极片不像粉末可以填充于样品槽并用载玻片压制制样，使之样品表面与样品槽高度保持一致，在以往极片制样时，往往是将极片卡在样品槽上，但如此即不能像粉末一样填充于样品槽使得样品表面与样品槽高度保持一致，导致最后计算的相关晶体学参数出现很大的偏差，而此问题也是目前亟待解决的。

正极极片由于取样面积较小且铝箔较薄，所以易导致铝箔产生弯折，制样时往往不能保持平整的水平面，保持水平时又往往不能与样品槽高度保持一致。负极极片测试时，OI值多次测试会出现一定的差异，而OI值作为负极极片的一项重要参数，因此对其XRD的制样更加不容忽视。

另外，在实际测试中，由于各种因素，需要测试的粉末样品往往剩余量较少，不足以填满样品槽，而在样品槽中间位置制样时又不能保证样品能有一个水平面。而此问题亦是目前急需解决的。

中国实用新型(201720882332.6)公开了一种简易多性状X射线衍射仪样品台，包括支撑台、置样台和螺纹杆，所述支撑台上设置有一样品槽和一螺纹孔，所述样品槽和螺纹孔连通，所述置样台位于所述样品槽中，所述螺纹杆的一端旋转穿过所述螺纹孔与样品槽中的置样台固定连接，所述螺纹杆的另一端位于所述支撑台外。但该样品台仍存在不足：该样品台的螺纹杆外置，容易出现滑动的情况，无法保证测试时候样品与样品槽高度保持一致。虽然也有设置了限位螺杆，但依然无法保证样品与样品槽的高度一致，还是会使得样品出现细微偏差。对于极片而言，如果无法保证样品表面与样品槽高度一致，则会导致测试的结构参数产生细微变化，影响准确性。

有鉴于此，确有必要提供一种解决上述问题的技术方案。

实用新型内容

本实用新型的目的在于：针对相关技术存在的不足，本实用新型提供一种XRD制样夹具，以解决样品易弯折起伏、样品表面与样品槽高度不一致的问题，同时也解决了测试粉末样品较少的问题。

为了实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案：一种XRD制样夹具，包括第一主体和第二主体，所述第一主体设置有样品台，所述第二主体设置有安装孔，所述样品台与所述安装孔螺纹连接，所述安装孔的端面设置有载玻片，所述样品台的顶面和所述载玻片之间形成一样品容置腔。

先将测试的极片放置于样品台面上，通过旋钮螺纹调整极片样品表面的高度，利用安装孔端面上的载玻片固定一个水平面，然后旋钮第一主体使极片上升，逐渐缩短样品台顶面和载玻片之间距离，使得样品容置腔可以刚好容纳测试极片，即极片上升至刚好触碰载玻片下底面时截止，此时极片的表面与第二主体顶面高度保持一致。利用此装置完美解决了测试的样品表面与样品槽高度不一致的问题，同时，由于样品和载玻片刚好接触吻合，避免了样品可能出现弯折起伏的问题。另外，通过调节控制了样品容置腔的实际深度，即使测试粉末样品质量较少时也能够满足XRD的测试要求，避免了出现样品无法填充样品槽导致测试结果出现极大误差的问题。