[实用新型]测量系统

权利要求书

1.测量系统(1)，其用于检测压力和/或密度，其至少包括

一个过程接头(3C)，

一个圆形波纹膜片(7)，

一个测量机构(52)，

一个壳体(2)，和

一个指示器(51)，

其中，

过程压力通过过程接头(3C)作用在圆形波纹膜片(7)上并且在测量机构(52)上的过程压力改变时，所述测量机构(52)将由此引起的圆形波纹膜片(7)的位移转化为指针(11)的转动运动，并且

指示器(51)上的指针(11)在刻度(50)上指示施加在圆形波纹膜片(7)上的压力，

其特征在于，所述圆形波纹膜片(7)具有小于28mm或小于23mm的直径。

2.根据权利要求1所述的测量系统(1)，其特征在于连接件(3)，所述连接件具有过程接头(3C)、仪表底座(3A)和管状的延长部(3B)。

3.根据权利要求2所述的测量系统(1)，其特征在于，

所述圆形波纹膜片(7)材料锁合地与仪表底座(3A)连接，和/或

压环(14)将圆形波纹膜片(7)的边缘压靠到仪表底座(3A)上并且支撑所述圆形波纹膜片(7)。

4.根据权利要求2所述的测量系统(1)，其特征在于，

所述过程接头(3C)、仪表底座(3A)和管状的延长部(3B)分别制造为单独的部件并且一件式地组合成连接件(3)，和/或

所述连接件(3)的面向过程的内表面被抛光和/或电抛光和/或打磨和/或

在所述过程接头(3C)、仪表底座(3A)和管状的延长部(3B)之间的接合区域被抛光和/或电抛光和/或打磨。

5.根据权利要求2所述的测量系统(1)，其特征在于，所述连接件(3)具有管状的延长部(3B)，所述管状的延长部在过程接头(3C)上具有与管横截面同轴的一体成型的密封几何结构(4)。

6.根据权利要求2所述的测量系统(1)，其特征在于，所述连接件(3)具有40mm至100mm的长度。

7.根据权利要求2所述的测量系统(1)，其特征在于，在所述连接件(3)上设置有压紧螺栓(5)或不可脱落的压紧螺栓(5)或可分的压紧螺栓(5)。

8.根据权利要求1所述的测量系统(1)，其特征在于，所述壳体(2)具有小于40mm或小于30mm的外直径。

9.根据权利要求1所述的测量系统(1)，其特征在于，所述指示器(51)具有刻度盘(12)，

所述刻度盘在零点之上具有第一种刻度(50A)，所述第一种刻度以单位bar和/或单位psi显示压力值并且

所述刻度盘在零点之下具有第二种刻度，所述第二种刻度以与第一种刻度(50A)不同的单位显示压力值。

10.根据权利要求1所述的测量系统(1)，其特征在于，所述圆形波纹膜片(7)由特别抗腐蚀的材料制成或由抗腐蚀的镍基合金制成。

11.根据权利要求1所述的测量系统(1)，其特征在于，所述圆形波纹膜片(7)在中部具有挺杆(8)，所述挺杆与杠杆状的测量机构(52)连接。

12.根据权利要求1所述的测量系统(1)，其特征在于

下方的单元，其包括至少一个仪表底座和焊接在所述仪表底座上的圆形波纹膜片(7)，

上方的单元，其至少包括壳体(2)、指示器(51)和测量机构(52)，

其中，所述上方的单元和下方的单元借助螺纹连接耦联或者是能借助螺纹连接耦联的。