[实用新型]一种用于芯片推拉力测试仪的清洁装置

说明书

本实用新型公开了一种用于芯片推拉力测试仪的清洁装置，属于推拉力测试仪技术领域，解决了芯片推拉力测试仪在工作时会因灰尘颗粒的影响而导致测试精度不足、测试数据不准确的问题，本实用新型包括底座，所述底座上方安装有工作平台，所述工作平台上连接有支撑台，所述支撑台连接有测试头，所述底座的表面和底座与工作台之间的连接处均开设有多个通风栅口，底座内安装有清洁装置，所述清洁装置包括吸尘盘和抽风机，吸尘盘与抽风机连通，所述抽风机的进风口安装有滤尘网，抽风机的出风口与底座外连通。本实用新型有效提高了推拉力测试仪测试精度。

技术领域

本实用新型属于芯片测试技术领域，具体涉及一种一种用于芯片推拉力测试仪的清洁装置。

背景技术

推拉力测试仪是用于微电子封装和PCBA电子组装制造及其失效分析领域的专用动态测试仪器，是微电子和电子制造领域的重要仪器设备，该设备适用于半导体IC封装测试、LED封装测试，光电子器件封装测试、PCBA电子组装测试、汽车电子、航空航天等领域，亦可用于各种电子分析及研究单位失效分析领域以及各类院校教学和研究。

芯片推拉力测试仪可对芯片进行推力和拉力测试，测试其是否容易发生芯片断裂等异常，对于芯片产品来说是必不可少的可靠性测试，直接影响封装产品的良品率与客户的使用体验效果，对于精密的芯片来说，在封装过程中都是不允许有任何灰尘杂质被一起封装的，若作业的车间内空气中灰尘较多，容易沉降在芯片和板上，会导致芯片封装的固定和密封都受到影响，严重时会影响芯片的电子性能，甚至导致引脚短路等，造成产品残次率大大提高，而芯片推拉力测试仪同样是精密的仪器，在进行推拉力测试时，也要求测试环境要达到一定的无尘要求，以防止灰尘颗粒会对测试产生影响，从而破坏测试数据的真实有效性，造成生产制造损失。因此，芯片推拉力测试仪的清洁装置是我们改进的重点。另一方面，芯片推拉力测试仪在测试过程中要求测试环境的稳定，不能有晃动、震动发生，否则实验数据将出现较大偏差。

实用新型内容

本实用新型的目的在于：

为解决芯片推拉力测试仪在工作时会因灰尘颗粒的影响而导致测试精度不足、测试数据不准确的问题，而提供一种用于芯片推拉力测试仪的清洁装置。

本实用新型采用的技术方案如下：

一种用于芯片推拉力测试仪的清洁装置，包括底座，所述底座上方安装有工作平台，所述工作平台上连接有支撑台，所述支撑台连接有测试头，其特征在于，所述底座的表面和底座与工作台之间的连接处均开设有多个通风栅口，底座内安装有清洁装置，所述清洁装置包括吸尘盘和抽风机，吸尘盘与抽风机连通，所述抽风机的进风口安装有滤尘网，抽风机的出风口与底座外连通。

进一步地，所述底座的底部连接有底座支脚，所述底座支脚连接有伸入底座内的缓冲杆，所述缓冲杆上套设有减震弹簧，所述减震弹簧的两端分别与底座底部和底座支脚连接，所述底座内壁上连接有限位环，所述缓冲杆穿过限位环的内部。

进一步地，所述清洁装置还包括外壳，所述外壳上安装吸尘盘，所述吸尘盘上连接有多个进气嘴，吸尘盘与外壳之间连接有集中风管，所述进气嘴均与集中风管连通，集中风管连通有位于外壳内的除尘内壳，所述除尘内壳的内壁上与集中风管连接的开口下方安装有折流板，除尘内壳的内壁上还交错连接有多个水平布置吸尘板，所述吸尘板上覆盖有吸尘海绵，除尘内壳内的底部安装滤尘网，所述滤尘网连通抽风机，所述抽风机安装于外壳与除尘内壳之间的底部。

进一步地，所述吸尘板与除尘内壳之间均铰接连接，吸尘板均连接有震动电机，所述震动电机位于外壳与除尘内壳之间，震动电机连接于吸尘板的铰接处。

进一步地，所述吸尘板靠近除尘内壳底部的一块上开设有卡接口，除尘内壳内的底部安装有与卡接口配合的风机隔离板，所述风机隔离板与除尘内壳铰接。

进一步地，所述除尘内壳的底部还安装有滑动门板，所述滑动门板下方的外壳内底部安装有集尘箱，所述集尘箱为锥体形状。