[实用新型]一种集成电路芯片测试座

说明书

本实用新型公开了一种集成电路芯片测试座，包括底座，所述底座的顶部外壁开设有卡槽，且卡槽的底部内壁连接有测试弹簧，测试弹簧的顶端连接有探针，所述底座顶部外壁的一端转动连接有盖板，且盖板底部外壁的一端固定有磁块，所述底座顶部外壁与磁块对应的位置固定有铁片，铁片与磁块之间磁性吸附固定。本实用新型将芯片的引脚卡进卡槽中完成电性连接进行测试，同时将底座顶部的盖板合上，使盖板的磁块与底座上的铁片吸附固定，以利用盖板将芯片进行遮挡，从而避免底座顶部周围以及周围空气中的灰尘被吸附靠近芯片位置，从而保证芯片的干净，且避免取出芯片后灰尘落入至卡槽中，从而延长设备的使用寿命。

技术领域

本实用新型涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种集成电路芯片测试座。

背景技术

集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，集成电路芯片的出现是电子技术快速发展的象征。

集成电路在生产或者使用前常需要进行测试作业，通常将集成电路芯片的引脚插入到测试座的定位卡槽中，利用卡槽中的测试弹簧和探针与芯片的引脚电性连接，并将测试座与计算机连接，以进行测试作业，实际测试过程中芯片的外表面直接暴露在外部，芯片因为通电会产生静电，会将周围的灰尘吸附，长时间的过程中，易造成定位卡槽中吸附有灰尘，导致测试座的使用寿命较低。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种集成电路芯片测试座。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种集成电路芯片测试座，包括底座，所述底座的顶部外壁开设有卡槽，且卡槽的底部内壁连接有测试弹簧，测试弹簧的顶端连接有探针，所述底座顶部外壁的一端转动连接有盖板，且盖板底部外壁的一端固定有磁块，所述底座顶部外壁与磁块对应的位置固定有铁片，铁片与磁块之间磁性吸附固定，所述盖板的顶部内壁固定有等距离分布的第一散热片，所述盖板的底部外壁粘接有橡胶垫。

优选的，所述橡胶垫底部外壁的两侧外壁均开设有等距离分布的凹槽，且凹槽呈弧形结构。

优选的，所述底座的顶部外壁开设有与凹槽相适配的凸块。

优选的，所述底座一侧外壁的中间位置开设有穿槽，且穿槽的顶部和底部内壁之间固定有等距离分布的导热块。

优选的，所述穿槽内设置有等距离分布的第二散热片，且第二散热片的两侧外壁分别与两个导热块之间固定连接。

优选的，所述底座两端外壁与卡槽对应的位置开设有辅助槽，且辅助槽的一端内壁固定有等距离分布的第三散热片。

优选的，所述辅助槽内利用第三散热片构成有等距离分布的连接槽，且连接槽固定有波纹状结构的隔片。

本实用新型的有益效果为：

1、底座上设置有定位用的卡槽，卡槽内设置有相连接的测试弹簧和探针，进行测试时将芯片的引脚卡进卡槽中完成电性连接进行测试，同时将底座顶部的盖板合上，使盖板的磁块与底座上的铁片吸附固定，以利用盖板将芯片进行遮挡，从而避免底座顶部周围以及周围空气中的灰尘被吸附靠近芯片位置，从而保证芯片的干净，且避免取出芯片后灰尘落入至卡槽中，从而延长设备的使用寿命。

2、盖板的顶部固定有等距离分布的第一散热片，从而将集成电路芯片在工作过程中产生的热量散出，以保证集成电路芯片的正常工作，且盖板的底部设置有橡胶垫，橡胶垫上的凹槽与底座上的凸块相适配，从而提高盖板与底座之间的密封性，进一步增强防尘效果，以延长设备的使用寿命。