[实用新型]一种电路板测试用的探针组件

说明书

本实用新型公开了一种电路板测试用的探针组件，包括固定件，所述固定件上上下贯通设有若干个通道，每个通道内均固定设有套管，所述套管内设有可调节上下高度的探针；所述探针包括两端开口的导电套管，所述导电套管的上端开口设有堵头，靠近堵头一侧的导电套管内设置有弹簧，所述导电套管的下端开口处设有与弹簧接触的导电探针，所述导电探针的外侧端部可拆卸设置有探头；所述导电套管上具有向内凹陷的凹陷部，所述导电探针的一端位于凹陷部的上方、并在其上设有与凹陷部搭接的圆台体。本实用新型可调整多个探针的高度来适配产品，且探针组件整体安装方便；探头的可拆卸安装，可根据待测产品需求更换探头，操作方便，利于降低成本。

技术领域

本实用新型属于一种检测部件，供SMT加工过程中的电路板测试使用，具体为一组探针组件。

背景技术

探针是半导体制造过程中的一种重要测试器件，其主要用于晶圆表面元器件的在线电路测试、功能测试等。现有探针结构一般都具有导电套管及设置在导电套管内的弹簧和导电探针，其中导电探针的一端裸露在导电套管外部，用以与待测产品接触。

目前存在待测产品需要进行多个测试点测量，受制于待测产品形状的限制，测试点的测量高度不一致，目前的探针针对的是单点测试，对多个不同高度的测试点测量时需要人工进行高度调整，耗时长。且在单点测试过程中常会发生探针扎偏测试点的现象，进而影响测试的质量。

实用新型内容

为克服上述缺点，本实用新型的目的在于提供一种电路板测试用的探针组件，可有效的对多种类型的待测产品进行测量。

为了达到以上目的，本实用新型采用的技术方案是：一种电路板测试用的探针组件，包括固定件，所述固定件上上下贯通设有若干个通道，每个通道内均固定设有套管，所述套管内设有可调节上下高度的探针；所述探针包括两端开口的导电套管，所述导电套管的上端开口设有堵头，靠近堵头一侧的导电套管内设置有弹簧，所述导电套管的下端开口处设有与弹簧接触的导电探针，所述导电探针的外侧端部可拆卸设置有探头；所述导电套管上具有向内凹陷的凹陷部，所述导电探针的一端位于凹陷部的上方、并在其上设有与凹陷部搭接的圆台体。

进一步来说，所述导电探针包括上下分布的第一柱状体、第三柱状体、第二柱状体，所述第一柱状体的下端与圆台体的底面相连、上端设有插入弹簧内的限位杆；所述第三柱状体的上端与圆台体的端面相连；所述第二柱状体、第三柱状体、圆台体、限位杆、第一柱状体一体成型；所述凹陷部限定的距离大于第三柱状体、第二柱状体的直径，所述凹陷部限定的距离小于圆台体的底面直径，方便探针组装。

进一步来说，所述探头的下端面上设置有若干个锥形的尖端部，每个尖端部的顶点处于同一高度，且每个尖端部的顶部呈球体曲面的半球体。半球体与待测产品接触，其受力均衡，避免刮伤待测产品。

进一步来说，所述固定件包括上下依次分布的第二载体、第一载体和第三载体，所述第二载体、第三载体居中设置在第一载体上，所述第一载体的横截面积大于第二载体的横截面积、大于第三载体的横截面积。第二载体为具有外螺纹的柱状体，其可以螺纹旋紧在相应的安装板上，将探针组件固定。第三载体为正六角形结构，方便使用扳手等工具安装。

进一步来说，所述导电套管的上端设置有刻度线，位于刻度线下方的导电套管上设置有与套管上内螺纹适配的外螺纹。可手动的调节探针的安装位置，使其满足不同产品的探测需求。

进一步来说，所述导电套管的下端开口处设置有限定导电探针上下移动的导正环，保障导电探针垂直运行时的稳定，避免其晃动。

与现有技术相比，本实用新型的优点：1、可安装待测产品的要求分别调整多个探针的高度，使其满足待测产品的多点探测需求；2、探针组件通过螺纹锁固的方式进行安装，安装方便；3、探头的可拆卸安装，可根据待测产品需求更换探头，操作方便，利于降低成本；4、每个探头上具有多个尖端部，且尖端部与待测产品的接触点为半球体，多点测试有效规避了测试点扎偏，且在测试时不易扎伤测试点。