[实用新型]测量同步器副箱滑动齿套孔口锥面跳动检具

说明书

本实用新型属于机械加工领域，特别是涉及一种测量同步器副箱滑动齿套孔口锥面跳动检具，解决现有测量同步器副箱滑动齿套锥面跳动的方法，其测量耗时长、工作量大导致成本高且测量效率低，以及某些生产现场无法采用三坐标测量的问题。其中检具包括定位平板、测量杆、锁紧装置及百分表；所述定位平板上放置被测同步器副箱滑动齿套；所述测量杆与被测同步器副箱滑动齿套的锁止销孔间隙配合，间隙范围为0～0.09mm；所述测量杆上开设有第一通孔以及与第一通孔贯通的第二通孔；所述百分表插入第一通孔后与被测同步器副箱滑动齿套孔口锥面接触；所述锁紧装置设置在第二通孔内用于紧固百分表。

技术领域

本实用新型属于机械加工领域，特别涉及一种测量同步器副箱滑动齿套孔口锥面跳动检具。

背景技术

随着市场需求的增加，锁销式同步器类零件越来越多的走向市场。同步器零件的质量好坏直接关系到用户换挡操作的舒适性，在诸多影响因素中，与锁止销配合的锥面相对其孔的跳动误差是最容易被忽视的一大因素。

如图1和图2所示，现有同步器副箱滑动齿套06包括与传动轴配合的花键齿套01、与换挡齿轮配合的齿圈04以及支撑环板05，花键齿套01同轴设置在齿圈04内，且通过支撑环板05连接，花键齿套01伸出齿圈04的端面为同步器副箱滑动齿套的凸面，即图2中的A(花键齿套01的上端面)为同步器副箱滑动齿套的凸面，B(花键齿套01的下端面)为同步器副箱滑动齿套的凹面，支撑环板05上设置有6个或者9个锁止销孔02，其中3个锁止销孔02面朝凹面一侧孔口带有倒角锥面03，且均布分布；其余锁止销孔02面朝凸面一侧孔口带有倒角锥面03，工艺要求锥面相对于锁止销孔轴线有0.1mm的跳动要求。

锥面相对于锁止销孔轴线跳动的测量，通常采用三坐标测量，测量一个同步器副箱滑动齿套零件6个锁止销孔的跳动需要15分钟；测量一个同步器副箱滑动齿套零件9个锁止销孔的跳动需要20分钟。这种测量方式虽然测量准确，但是在某些生产现场难以采用三坐标测量锥面相对于锁止销孔轴线跳动，以及测量耗时长、工作量大，导致成本高且测量效率低。

实用新型内容

为了解决现有测量同步器副箱滑动齿套锥面跳动的方法，其测量耗时长、工作量大导致成本高且测量效率低，以及某些生产现场无法采用三坐标测量的问题。本实用新型提供了一种测量同步器副箱滑动齿套孔口锥面跳动检具。

为实现上述目的，本实用新型提供的技术方案是：

一种测量同步器副箱滑动齿套孔口锥面跳动检具，其特殊之处在于：包括定位平板、测量杆、锁紧装置及百分表；所述定位平板上放置被测同步器副箱滑动齿套；所述测量杆与被测同步器副箱滑动齿套的锁止销孔间隙配合，间隙范围为0～0.09mm；所述测量杆上开设有第一通孔以及与第一通孔贯通的第二通孔；所述百分表插入第一通孔后与被测同步器副箱滑动齿套孔口锥面接触；所述锁紧装置设置在第二通孔内用于紧固百分表。

进一步地，所述定位平板与被测同步器副箱滑动齿套的凹面接触的面为上表面，所述上表面中部设有凸起；所述凸起需满足以下关系：

H＞H1-H2

其中，H为凸起的高度，H1为被测同步器副箱滑动齿套的花键齿套上端面到支撑环板上端面的距离，H2为被测同步器副箱滑动齿套花键齿套下端面到支撑环板下端面的距离。

进一步地，所述第一通孔的中轴线与被测同步器副箱滑动齿套孔口锥面垂直。

进一步地，所述测量杆有两个系列，其中一个系列测量杆与被测同步器副箱滑动齿套的锁止销孔间隙为0～0.065mm，另一个系列测量杆与被测同步器副箱滑动齿套的锁止销孔间隙为0.065～0.09mm。

进一步地，所述第一通孔与第二通孔垂直。

进一步地，所述定位平板表面设有盲孔。

进一步地，所述定位平板的下表面开有环形凹槽。