[实用新型]一种封装二极管老化试验夹具有效

专利信息
申请号: 201920229516.1 申请日: 2019-02-25
公开(公告)号: CN209894845U 公开(公告)日: 2020-01-03
发明(设计)人: 张运坤;肖瑞权;杨晓东 申请(专利权)人: 贵州航天计量测试技术研究所
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/26
代理公司: 11024 中国航天科工集团公司专利中心 代理人: 葛鹏
地址: 550009 贵州省贵阳市*** 国省代码: 贵州;52
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摘要:
搜索关键词: 盖板 底板 二极管 封装 老化试验夹具 对称中心线 螺栓 底板长边 老化试验 底座 长方体形状 二极管安装 传导散热 大小一致 金属制作 通风散热 翼形螺母 加厚 安装槽 接线柱 散热 弹簧 弹片 嵌入 合金 烧毁
【说明书】:

本公开涉及一种封装二极管老化试验夹具,包括:底板,盖板,还有能将底板和盖板固定在一起的螺栓和翼形螺母。所述底板为长方体形状的加厚PCB板,底板长边对称中心线上有三颗固定好的螺栓,底板长边对称中心线两侧各有一排12个大小一致的SMD‑01封装二极管安装槽,每排安装槽两端各有一根接线柱;所述盖板长度略短于底板,盖板上有个凹槽每个凹槽里装有一根弹簧和一根合金弹片。它是一种底座与盖板分离,器件半嵌入底座,器件周围可通风散热,盖板为金属制作,通过盖板可以传导散热的二极管老化试验夹具。解决了SMD‑01封装二极管老化试验中因散热不良导致损坏器件或者烧毁老化试验板的问题,取得了较好的使用效果。

技术领域

实用新型涉及一种封装二极管老化试验夹具。

背景技术

SMD-01封装形式系列的二极管由于封装形式特殊,与常规封装二极管的老化试验夹具不兼容。老炼试验设备生产商设计生产的专用老炼试验板,其配备的安装夹具为常规测试夹具即由底座和盖板构成,由于其底座和盖板均是由塑料制成,塑料的导热性能较差很难测试到壳体温度,且二极管安装到夹具内后,二极管的各个表面均无空气流动,散热效果欠佳。二极管在功率老炼过程中产生的热量不能及时散发出去,热量堆积会对试验器件造成损伤。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种封装二极管老化试验夹具,其结构简单,能够解决SMD-01封装二极管老化试验中因散热不良导致损坏器件或者烧毁老化试验板的问题。

为解决上述技术问题,本实用新型采用的技术方案是:一种封装二极管老化试验夹具,其特征在于,包括:底板,盖板,还有能将底板和盖板固定在一起的螺栓和翼形螺母,底板的长边对称中心线上有多颗固定好的螺栓,底板的长边对称中心线两侧各有一排大小一致且相互对称的长方形安装槽,每排凹槽两端各有一根接线柱;所述盖板长度略短于底板,盖板上有多个凹槽,每个凹槽里装有一根弹簧和一根合金弹片。

与现有技术相比,本实用新型具有以下有益的技术效果:

结构简单,包括:底板,盖板。方便实用,散热效果较普通安装座好,当SMD-01封装二极管进行老炼试验时拧下翼形螺母取下盖板,将二极管于串联方式装入各凹槽内。装满二极管后将盖板安装到底板上,通过扭动翼形螺母来调节盖板压到二极管上的力度,使各二极管的焊盘于安装凹槽里的金属弹片接触良好。最后用导线连接到底板两端的接线柱上并将其接入试验电路。通过加入该使用新型,SMD-01封装二极管老炼试验时其壳体发热量更容易测试和控制,热量更容易散发出去,从而减少甚至是避免因散热不良造成的器件损坏或者烧毁,增加筛选试验的可靠性。

附图说明

图1是本实用新型的封装二极管老化试验夹具的正视图。

图2本实用新型封装二极管老化试验夹具的顶视图;

图3本实用新型封装二极管老化试验夹具的底板顶视图;

图4本实用新型封装二极管老化试验夹具的盖板侧视图。

具体实施方式

下面通过具体实施方案对本实用新型作进一步详细描述,但这些实施实例仅在于举例说明,并不对本实用新型的范围进行限定。

请参照图1至图4,本实用新型的封装二极管老化试验夹具,包括:底板1,盖板2,还有能将底板1和盖板2固定在一起的螺栓8和翼形螺母3,底板1的长边对称中心线上有多颗固定好的螺栓8,底板1的长边对称中心线两侧各有一排大小一致且相互对称的长方形安装槽6,每排凹槽两端各有一根接线柱4-1、4-2、4-3、4-4;所述盖板2长度略短于底板1,盖板2上有多个凹槽,每个凹槽里装有一根弹簧9和一根合金弹片5。

在一个实施例中,所述底板1为长方体形状的加厚PCB板。

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