[实用新型]一种封装二极管老化试验夹具

权利要求书

1.一种封装二极管老化试验夹具，其特征在于，包括：底板(1)，盖板(2)，还有能将底板(1)和盖板(2)固定在一起的螺栓(8)和翼形螺母(3)，底板(1)的长边对称中心线上有多颗固定好的螺栓(8)，底板(1)的长边对称中心线两侧各有一排大小一致且相互对称的长方形安装槽(6)，每排凹槽两端各有一根接线柱(4-1、4-2、4-3、4-4)；所述盖板(2)长度略短于底板(1)，盖板(2)上有多个凹槽，每个凹槽里装有一根弹簧(9)和一根合金弹片(5)。

2.根据权利要求1所述的封装二极管老化试验夹具，其特征在于，所述底板(1)为长方体形状的加厚PCB板。

3.根据权利要求1所述的封装二极管老化试验夹具，其特征在于，所述安装槽(6)为安装SMD-01封装二极管的凹槽，其长宽略大于SMD-01封装二极管的长宽，其深度为SMD-01封装二极管高度的1/2。

4.根据权利要求1所述的封装二极管老化试验夹具，其特征在于，所述凹槽数目为12个。

5.根据权利要求2所述的封装二极管老化试验夹具，其特征在于，所述螺栓的数目为3个。

6.根据权利要求3所述的封装二极管老化试验夹具，其特征在于，所述每个安装槽(6)两端各有一块固定的金属弹片(7-1、7-2)，其大小略大于SMD-01封装二极管两端的焊盘。

7.根据权利要求4所述的封装二极管老化试验夹具，其特征在于，所述同一个安装槽(6)里的两块金属弹片(7-1、7-2)之间相互绝缘，同一排凹槽里的各安装槽(6)及两端的接线柱(4-1、4-2或4-3、4-4)通过PCB板的内嵌导线(11)组成串联模式。

8.根据权利要求7所述的封装二极管老化试验夹具，其特征在于，所述盖板(2)的主体是一倒凹字形的长方体铝合金块，长方体铝合金块在Y轴方向上开12个倒凹槽，每个凹槽里安装一根弹簧(9)和一根弹片(5)，盖板(2)主体X轴凹槽口安装有限位板(10)，限位板(10)通过螺丝固定在盖板(2)主体上。

9.根据权利要求7所述的封装二极管老化试验夹具，其特征在于，弹片(5)的长度短于底板(1)的宽度且大于两排安装槽(6)靠外两侧之间的距离，弹片(5)的中间段为水平段其长度等于盖板(2)主体铝合金块的宽度，弹片(5)在盖板(2)主体两侧向下弯曲。

10.根据权利要求7所述的封装二极管老化试验夹具，其特征在于，所述底板(1)上同一排安装槽(6)相邻两槽之间的距离与盖板(2)上相邻的两片弹片(5)之间的距离一一对应，弹片(5)的宽度与安装槽(6)的长度相近。