[实用新型]新型测试顶针有效
申请号: | 201920183816.0 | 申请日: | 2019-02-01 |
公开(公告)号: | CN209979705U | 公开(公告)日: | 2020-01-21 |
发明(设计)人: | 陈明中;蔡羽;林春喜;施杨钦;林票胜;许凯滨;归禄发 | 申请(专利权)人: | 惠州市德合盛科技有限公司 |
主分类号: | G01R1/073 | 分类号: | G01R1/073;G01R31/36;H01R13/24;H01R13/502 |
代理公司: | 44245 广州市华学知识产权代理有限公司 | 代理人: | 刘羽 |
地址: | 516006 广东省惠州市东江高*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 顶针 弹片 定形 塑胶支架 电接触 接线引脚 接触头 连接件 弯道 绝缘底板 电池 避位孔 折弯部 弹簧连接结构 一体成型结构 电性能测试 测试电路 测试顶针 导电性能 金属基材 末端连接 使用寿命 电连接 原有的 抵持 抵接 腔内 罩设 折弯 连通 配合 | ||
一种新型测试顶针包括绝缘底板、塑胶支架及多个扣电接触弹片。塑胶支架罩设绝缘底板,塑胶支架开设有多个顶针定形腔及多个避位孔,避位孔与顶针定形腔连通。扣电接触弹片包括接线引脚、弹片接触头及弹性弯道连接件,弹性弯道连接件设置有两个折弯部,接线引脚及弹片接触头分别与两个折弯部的末端连接,弹性弯道连接件容置于顶针定形腔内,弹片接触头用于与电池抵接,接线引脚用于与测试电路电连接,扣电接触弹片为一体成型结构,扣电接触弹片直接有金属基材折弯形成,通过自身弹性及配合塑胶支架上的顶针定形腔取代原有的弹簧连接结构与电池抵持,以进行电池的电性能测试,提高了顶针的导电性能且延长了顶针的使用寿命。
技术领域
本实用新型涉及一种顶针,特别是涉及一种新型测试顶针。
背景技术
电池加工完成后需要运往各个测试设备中进行电性能测试,以确保电池的电性能达标,为了将电池接入测试设备,需要在测试设备上设置顶针,通过顶针与电池抵接,将顶针固定在测试设备上的同时,将电池接入测试设备的测试电路中以进行电性能测试。
然而,现有测试顶针的测试针基本都由弹簧连接至底部测试点,即测试顶针由与电池接触的测试部、与电路连接的接线部及用于连接测试部及接线部的弹簧组成,三个部件之间通过焊接连接,而这种结构长时间使用后会导致测试针与弹簧磨损,导致测试顶针接触不良或接触电阻大而导致测试不准确。
实用新型内容
本实用新型的目的是克服现有技术中的不足之处,提供一种优化顶针的结构,取代现有的弹簧连接的结构,直接采用金属材质本身弯曲的弹性来进行测试,避免长时间使用而导致测试顶针接触不良或接触电阻大引起的测试不准确的问题,提高测试顶针的实用寿命。
本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的:
一种新型测试顶针包括绝缘底板、塑胶支架及多个扣电接触弹片;
所述塑胶支架罩设所述绝缘底板,所述塑胶支架开设有多个顶针定形腔及多个避位孔,多个所述顶针定形腔之间设置有间隔,多个所述避位孔一一对应与多个所述顶针定形腔连通;
多个所述扣电接触弹片一一对应容置于多个所述顶针定形腔内,在一个所述扣电接触弹片中,所述扣电接触弹片包括接线引脚、弹片接触头及弹性弯道连接件,所述弹性弯道连接件设置有两个折弯部,所述接线引脚及所述弹片接触头分别与两个折弯部的末端连接,所述接线引脚、所述弹片接触头及所述弹性弯道连接件为一体成型结构,所述弹性弯道连接件容置于所述顶针定形腔内,所述弹片接触头穿设所述避位孔,且所述弹片接触头露置于所述塑胶支架外,所述弹片接触头用于与电池抵接,所述接线引脚用于与测试电路电连接。
在其中一个实施例中,所述绝缘底板上开设有定位孔。
在其中一个实施例中,所述绝缘底板上开设有多个接线避位孔。
在其中一个实施例中,所述弹片接触头上设置有锥形抵持部,所述锥形抵持部用于与电池抵接。
在其中一个实施例中,所述弹片接触头具有“L”字形横截面。
在其中一个实施例中,每相邻两个所述扣电接触弹片为一组,每一组所述扣电接触弹片用于同时与同一电池抵接。
在其中一个实施例中,所述塑胶支架的底部开设有多个走线孔,多个所述走线孔一一对应与多个所述顶针定形腔连通。
在其中一个实施例中,所述弹性弯道连接件上的两个所述折弯部的折弯角度均为180°。
在其中一个实施例中,所述弹性弯道连接件具有“S”字形横截面。
在其中一个实施例中,所述塑胶支架开设有螺母容置孔。
与现有技术相比,本实用新型至少具有以下优点:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于惠州市德合盛科技有限公司,未经惠州市德合盛科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201920183816.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种用于垂直探针卡陶瓷板
- 下一篇:探针卡及晶圆测试设备