[发明专利]一种定位乳腺病灶穿刺点的方法及系统有效

专利信息
申请号: 201911397451.2 申请日: 2019-12-30
公开(公告)号: CN110960299B 公开(公告)日: 2022-12-13
发明(设计)人: 郭朋;陈晶;孙瑞超;杜如坤 申请(专利权)人: 深圳蓝影医学科技股份有限公司
主分类号: A61B17/34 分类号: A61B17/34;A61B90/11;A61B34/10;G06T7/70;A61B34/20
代理公司: 深圳市智胜联合知识产权代理有限公司 44368 代理人: 王月
地址: 518000 广东省深圳市大鹏新区葵*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 定位 乳腺 病灶 穿刺 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种定位乳腺病灶穿刺点的系统,其特征在于,乳腺机包括压迫盘和探测器,待测乳腺位于所述压迫盘与探测器之间,包括:

厚度采集模块,用于采集压迫盘压迫乳腺时的压迫厚度,所述压迫厚度为所述压迫盘到所述探测器的距离;

曝光模块,用于分别曝光采集乳腺的第一轴位图像和第一斜位图像,得到第一轴位图像内的平面病灶坐标和第一斜位图像内的斜位病灶坐标,其中,所述第一斜位图像具体为曝光角度与轴线为θ时的图像,θ=45;

深度计算模块,用于根据所述平面病灶坐标、所述斜位病灶坐标及所述压迫厚度计算出病灶深度;利用下面的公式,计算病灶的深度T:

T=D-L/tanθ;

L=X2-X1;

其中,T为病灶深度,D为压迫厚度,所述平面病灶坐标为(X1,Y1),所述斜位病灶坐标为(X2,Y2);

穿刺模块,用于利用所述病灶深度和平面病灶坐标对所述乳腺进行穿刺。

2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,还包括:

二次曝光模块,用于分别曝光采集所述乳腺的第二轴位图像和第二斜位图像,并判断穿刺点是否准确;

第二穿刺模块,用于若不准确,则根据所述第二轴位图像和所述第二斜位图像调整所述穿刺点。

3.电子设备,其特征在于,包括处理器、存储器及存储在所述存储器上并能够在所述处理器上运行的计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至2中任一项所述的定位乳腺病灶穿刺点系统的步骤,步骤包括:

采集压迫盘压迫乳腺时的压迫厚度,所述压迫厚度为所述压迫盘到所述探测器的距离;

分别曝光采集乳腺的第一轴位图像和第一斜位图像,得到第一轴位图像内的平面病灶坐标和第一斜位图像内的斜位病灶坐标,其中,所述第一斜位图像具体为曝光角度与轴线为θ时的图像,θ=45;

根据所述平面病灶坐标、所述斜位病灶坐标及所述压迫厚度计算出病灶深度;利用下面的公式,计算病灶的深度T:

T=D-L/tanθ;

L=X2-X1;

其中,T为病灶深度,D为压迫厚度,所述平面病灶坐标为(X1,Y1),所述斜位病灶坐标为(X2,Y2);

利用所述病灶深度和平面病灶坐标对所述乳腺进行穿刺。

4.计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至2中任一项所述的定位乳腺病灶穿刺点系统的步骤,步骤包括:

采集压迫盘压迫乳腺时的压迫厚度,所述压迫厚度为所述压迫盘到所述探测器的距离;

分别曝光采集乳腺的第一轴位图像和第一斜位图像,得到第一轴位图像内的平面病灶坐标和第一斜位图像内的斜位病灶坐标,其中,所述第一斜位图像具体为曝光角度与轴线为θ时的图像,θ=45;

根据所述平面病灶坐标、所述斜位病灶坐标及所述压迫厚度计算出病灶深度;利用下面的公式,计算病灶的深度T:

T=D-L/tanθ;

L=X2-X1;

其中,T为病灶深度,D为压迫厚度,所述平面病灶坐标为(X1,Y1),所述斜位病灶坐标为(X2,Y2);

利用所述病灶深度和平面病灶坐标对所述乳腺进行穿刺。

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