[发明专利]LED支架缺陷判定方法及系统

说明书

本发明提供一种LED支架缺陷判定方法及系统。所述方法包括：获取LED支架的待测图像；根据待测目标在所述待测图像中LED支架的位置信息，对待测图像进行分割，并得到至少一个第一待测子图像；采用预设的模板图像对每个第一待测子图像进行匹配，并得到相应的匹配系数；根据匹配系数判断所述LED支架中的待测目标是否基本正常；若判定LED支架基本正常，根据LED支架对应的待测图像的灰度值，对LED支架对应的待测图像进行分割，并得到至少一个第二待测子图像；对每个第二待测子图像进行连通域分析，并得到相应的待测目标的属性信息；根据待测目标的属性信息判定所述LED支架是否存在缺陷。本发明能够精准快速的对LED支架上的待测目标进行判定，并能够节省劳动力。

技术领域

本发明涉及图像处理技术领域，尤其涉及一种LED支架缺陷判定方法及系统。

背景技术

LED(Light Emitting Diode，发光二极管)在现代生活中必不可少，电视机屏幕、手机屏幕、汽车灯等等，都有LED的身影。而LED支架是LED灯珠的载具，即LED支架是LED灯珠在封装之前的底基座，在LED支架的基础上，将芯片固定进去，焊上正负电极，再用封装胶对LED灯珠进行封装，以将LED灯珠固定在LED支架上的安装孔上。因此LED支架上的安装孔出现不良，会使得LED灯珠也不能正常发挥作用。

而现有的LED支架一般需要安装很多个LED灯珠，为提高LED灯珠的安装效率，需要保证安装孔注入的封装胶的形状统一。目前大多是采用人工检测的方法，对LED支架上的每个安装孔进行校验，以提高产品合格率。而人工检测缺点较多，如强度大有害身体，高强度工作使得视力下降严重，无法长时间坚持；工作效能低，单位时间检测强度有限，且长时间准确率波动大，以及人工成本高，人工检验有上限，产能提升需要大量人员等。

发明内容

为解决上述问题，本发明提供的LED支架缺陷判定方法及系统，能够精准快速的对LED支架上的待测目标进行判定，并能够节省劳动力。

第一方面，本发明提供一种LED支架缺陷判定方法，包括：

获取LED支架的待测图像，所述待测图像中包含至少一个待测目标；

根据待测目标在所述待测图像中LED支架的位置信息，对所述待测图像进行分割，并得到至少一个第一待测子图像，其中，每个第一待测子图像中包含至少一个待测目标；

采用预设的模板图像对每个第一待测子图像进行匹配，并得到相应的匹配系数，其中，所述匹配系数用于表示相应的第一待测子图像与所述面板图像的相似程度；

根据所述匹配系数判断所述LED支架中的待测目标是否基本正常；

若判定所述LED支架中的待测目标基本正常，根据所述LED支架对应的待测图像的灰度值，对所述LED支架对应的待测图像进行分割，并得到至少一个第二待测子图像，其中，每个第二待测子图像中包含至少一个待测目标；

对每个第二待测子图像进行连通域分析，并得到相应的待测目标的属性信息；

根据所述待测目标的属性信息判定所述LED支架是否存在缺陷。

可选地，所述根据所述匹配系数判断所述LED支架中的待测目标是否基本正常包括：

若所述匹配系数小于预设的第一阈值，判定所述LED支架中的待测目标存在缺陷；

若所述匹配系数大于或等于预设的第一阈值，判定所述LED支架中的待测目标基本正常。

可选地，所述模板图像的尺寸小于所述第一待测子对象尺寸；

所述采用预设的模板图像对每个第一待测子图像进行匹配，并得到相应的匹配系数，包括：