[发明专利]一种用于SERS检测的芯片反馈调节装置

说明书

本发明公开了一种用于SERS检测的芯片反馈调节装置，支架的滑轨上设有可滑动安装的滑台，滑台上设有平行于滑轨方向延伸的螺孔，螺旋导杆可转动安装在支架上且与滑台的螺孔螺纹配合，步进电机的驱动轴与螺旋导杆同轴布置且与螺旋导杆连接；检测盘位于滑台朝向拉曼检测仪一侧且与拉曼检测仪相对设置，检测盘上设有芯片安装位。通过上述优化设计的用于SERS检测的芯片反馈调节装置，通过步进电机驱动螺旋导杆转动，实现检测盘相对于拉曼检测仪的步进式调节，使得拉曼信号强度最大，保证检测精度，减小调节过程造成的仪器振动。

技术领域

本发明涉及SERS检测领域，尤其涉及一种用于SERS检测的芯片反馈调节装置。

背景技术

最近几年，拉曼技术是一种用于检测的重要工具，因为其不需要接触样品，对样品无损坏，可以对样品直接进行检测，具有快速，便捷等优点，所以这种检测技术广泛的应用在毒品检测、食品安全等众多的领域当中，当然也有其局限性，比如检测灵敏度低等。

在拉曼检测技术的基础上发展的表面增强拉曼光谱技术，其特点是具有超高的灵敏度，并且可以进行定量检测。其核心是将目标物吸附在金、银等颗粒制作成的基底上，能有效的放大拉曼信号，通常是在10⁴～10⁶倍数的增强，涉及到具体的应用就是普遍应用于拉曼光谱仪上。

SERS检测技术对焦距的敏感度较高，传统的检测技术是通过结构的精度来保证的，但是机械加工的零部件都存在一定的加工误差，且拉曼技术很多应用于现场检测，现场检测的过程当中仪器有可能产生振动，对检测结果产生影响，可能产生检测结果不准确的情况。

由于待测芯片本身存在一定厚度，为了使得拉曼检测信号处于最佳强度，因此在检测过程中需要对芯片的位置进行精细调节。

发明内容

为解决背景技术中存在的技术问题，本发明提出一种用于SERS检测的芯片反馈调节装置。

本发明提出的一种用于SERS检测的芯片反馈调节装置，包括：步进电机、支架、螺旋导杆、拉曼检测仪、检测盘；

支架上设有竖直延伸的滑轨，滑轨上设有可滑动安装的滑台，滑台上设有平行于滑轨方向延伸的螺孔，螺旋导杆可转动安装在支架上且与滑台的螺孔螺纹配合，步进电机位于支架一侧，步进电机的驱动轴与螺旋导杆同轴布置且与螺旋导杆连接；

拉曼检测仪安装在支架上且位于螺旋导杆远离步进电机一端，检测盘位于滑台朝向拉曼检测仪一侧且与拉曼检测仪相对设置，检测盘上设有芯片安装位。

优选地，还包括距离传感器，距离传感器安装在支架上且位于螺旋导杆远离步进电机一端，距离传感器用于检测检测盘上的芯片位置。

优选地，还包括控制系统，控制系统与距离传感器和步进电机连接，控制系统用于根据距离传感器的检测信号控制步进电机驱动检测盘移动以调节待测芯片与拉曼检测仪之间的距离。

优选地，还包括控制系统，控制系统与拉曼检测仪和步进电机连接，控制系统用于根据拉曼检测仪的检测强度控制步进电机驱动检测盘移动以调节待测芯片与拉曼检测仪之间的距离。

优选地，控制系统内预设拉曼强度阈值，控制系统根据拉曼检测仪的检测强度与所述预设拉曼强度阈值的比较结果控制步进电机工作。

优选地，控制系统根据所述检测强度低于所述预设拉曼强度阈值，控制步进电机驱动检测盘向靠近拉曼检测仪的方向移动；

控制系统根据所述检测强度高于所述预设拉曼强度阈值，控制步进电机驱动检测盘向远离拉曼检测仪的方向移动。