[发明专利]一种用于SERS检测的芯片反馈调节装置

权利要求书

1.一种用于SERS检测的芯片反馈调节装置，其特征在于，包括：步进电机(2)、支架(10)、螺旋导杆(7)、拉曼检测仪(5)、检测盘(6)；

支架(10)上设有竖直延伸的滑轨，滑轨上设有可滑动安装的滑台(3)，滑台(3)上设有平行于滑轨方向延伸的螺孔，螺旋导杆(7)可转动安装在支架(10)上且与滑台(3)的螺孔螺纹配合，步进电机(2)位于支架(10)一侧，步进电机(2)的驱动轴与螺旋导杆(7)同轴布置且与螺旋导杆(7)连接；

拉曼检测仪(5)安装在支架(10)上且位于螺旋导杆(7)远离步进电机(2)一端，检测盘(6)位于滑台(3)朝向拉曼检测仪(5)一侧且与拉曼检测仪(5)相对设置，检测盘(6)上设有芯片安装位。

2.根据权利要求1所述的用于SERS检测的芯片反馈调节装置，其特征在于，还包括距离传感器(4)，距离传感器(4)安装在支架(10)上且位于螺旋导杆(7)远离步进电机(2)一端，距离传感器(4)用于检测检测盘(6)上的芯片位置。

3.根据权利要求2所述的用于SERS检测的芯片反馈调节装置，其特征在于，还包括控制系统，控制系统与距离传感器(4)和步进电机(2)连接，控制系统用于根据距离传感器(4)的检测信号控制步进电机(2)驱动检测盘(6)移动以调节待测芯片与拉曼检测仪(5)之间的距离。

4.根据权利要求1所述的用于SERS检测的芯片反馈调节装置，其特征在于，还包括控制系统，控制系统与拉曼检测仪(5)和步进电机(2)连接，控制系统用于根据拉曼检测仪(5)的检测强度控制步进电机(2)驱动检测盘(6)移动以调节待测芯片与拉曼检测仪(5)之间的距离。

5.根据权利要求4所述的用于SERS检测的芯片反馈调节装置，其特征在于，控制系统内预设拉曼强度阈值，控制系统根据拉曼检测仪(5)的检测强度与所述预设拉曼强度阈值的比较结果控制步进电机(2)工作。

6.根据权利要求5所述的用于SERS检测的芯片反馈调节装置，其特征在于，控制系统根据所述检测强度低于所述预设拉曼强度阈值，控制步进电机(2)驱动检测盘(6)向靠近拉曼检测仪(5)的方向移动；

控制系统根据所述检测强度高于所述预设拉曼强度阈值，控制步进电机(2)驱动检测盘(6)向远离拉曼检测仪(5)的方向移动。