[发明专利]基于正交倾斜光栅的双芯光纤Mach-Zehnder干涉仪在审
| 申请号： | 201911384686.8 | 申请日： | 2019-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN111121837A | 公开（公告）日： | 2020-05-08 |
| 发明（设计）人： | 苑立波;杨世泰 | 申请（专利权）人： | 桂林电子科技大学 |
| 主分类号： | G01D5/353 | 分类号： | G01D5/353;G01B9/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 541004 广西*** | 国省代码： | 广西;45 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 正交 倾斜 光栅 光纤 mach zehnder 干涉仪 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于正交倾斜光栅的双芯光纤Mach-Zehnder干涉仪。其特征是：它由光源、单模光纤、偏振控制器、光探测器、双芯光纤以及双芯光纤上的两对正交的45度倾斜光栅组成。所述组成中，光束由单模光纤从光源引出，经过偏振控制器后，输入双芯光纤的第一纤芯。光束被第一纤芯上的+45度倾斜光栅分成透射和反射两束。其中透射光束透射过第一纤芯上的-45度倾斜光栅继续在第一纤芯中传输；另一束被第二纤芯上的+45度倾斜光栅反射至第二纤芯传输，又经过第二纤芯和第一纤芯内的-45度倾斜光栅反射回第一纤芯中，与第一纤芯中的透射光束发生干涉输出，输出的干涉光束被单模光纤输入光探测器检测。
2.根据权利要求1所述的基于正交倾斜光栅的双芯光纤Mach-Zehnder干涉仪。其特征是：所述的+45度倾斜光栅平行分布于双芯光纤的两个纤芯上的同一位置；所述的-45度倾斜光栅平行分布于双芯光纤的两个纤芯上的同一位置。
3.根据权利要求1、2所述的基于正交倾斜光栅的双芯光纤Mach-Zehnder干涉仪。其特征是：所述的两对正交的45度倾斜光栅可以是均匀的布拉格倾斜光栅，也可以是啁啾倾斜光栅。
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