[发明专利]一种样本点位置确定方法及系统

说明书

本发明提供一种样本点位置确定方法及系统，该方法包括：根据平均采样面积和采样区域中每一预设样本点所在泰森多边形面积，获取每一预设样本点的稀疏指数；根据每一预设样本点的稀疏指数，获取若干稀疏区域；对于任一稀疏区域，根据所述任一稀疏区域与其它稀疏区域之间的位置关系，确定在任一稀疏区域中增加的加密样本点的位置。本发明提供一种样本点位置确定方法及系统，首先从采样区域中获取预设样本点局部分布不均匀的稀疏区域，根据稀疏区域中目标稀疏样本点的位置和该目标稀疏样本点所在泰森多边形，确定稀疏区域中每个加密样本点的位置，从而提高了采样区域中样本点的均匀性和代表性。

技术领域

本发明涉及采样技术领域，尤其涉及一种样本点位置确定方法及系统。

背景技术

空间采样是调查土壤属性空间变异和空间制图的重要方式。样本点的空间分布分为均匀分布和不均匀分布两种，其中不均匀分布又包含聚集分布和稀疏分布。聚集分布是指样本点空间分布成聚集状的空间分布格局，稀疏分布是指样本点空间分布成稀疏状的空间分布格局。在空间采样中，样本点是否均匀分布是区域样本点数据质量评价的重要指标，也是样本点数据分析挖掘的关键因素。然而，目前存在的样本点数据大多数无法保证样本点在采样区域中的均匀分布，存在样本点局部分布稀疏的情景，影响了样本点均匀性和代表性，增加了样本点数据分析的不确定性。

在稀疏区域中增加样本点可以提高样本点均匀性和代表性。目前现有技术中，增加样本点方法主要是在稀疏区域内随机加密布点和基于历史时期样本点数据加密布点。

随机加密布点无法准确确定样本点空间位置，基于历史时期样本点数据加密布点容易受到历史样本点位置的限制无法达到全局最优，因此，亟需一种样本点位置确定方法。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提供一种样本点位置确定方法及系统。

第一方面，本发明提供一种样本点位置确定方法，包括：

S1，根据平均采样面积和采样区域中每一预设样本点所在泰森多边形面积，获取每一预设样本点的稀疏指数，所述平均采样面积根据所述采样区域的面积和所有预设样本点的个数确定；

S2，根据每一预设样本点的稀疏指数，从中选取若干预设样本点作为稀疏样本点，将每一稀疏样本点所在的泰森多边形分别作为一个稀疏区域；

S3，对于任一稀疏区域，目标稀疏样本点为所述任一稀疏区域中的稀疏样本点，若判断获知所述任一稀疏区域与其它稀疏区域均相离，则在所述任一稀疏区域中增加一个加密样本点，对于所述目标稀疏样本点对应的加密样本点，所述加密样本点的位置根据所述目标稀疏样本点和所述目标稀疏样本点所在泰森多边形确定，并将所述加密样本点作为一个预设样本点；

S4，若判断获知所述任一稀疏区域只与一个其它稀疏区域相邻，将其它稀疏区域作为相邻稀疏区域，则在所述任一稀疏区域与所述相邻稀疏区域的公共边中点位置增加一个加密样本点；若判断获知所述任一稀疏区域与多个其它稀疏区域相邻，将其它稀疏区域作为相邻稀疏区域，则在所述任一稀疏区域与每一相邻稀疏区域的公共边中点位置都增加一个加密样本点，并将所有加密样本点作为预设样本点；

S5，重复步骤S1至S4，直至所述采样区域中不存在稀疏样本点为止，根据最后获得的每一预设样本点的位置，进行采样。

优选地，步骤S2中，所述根据每一预设样本点的稀疏指数，从中选取若干预设样本点作为稀疏样本点，具体包括：

对于任一预设样本点，确定所述任一预设样本点的稀疏指数大于预设阈值，则将所述任一预设样本点作为稀疏样本点。

优选地，步骤S2中，所述根据每一预设样本点的稀疏指数，从中选取若干预设样本点作为稀疏样本点，具体包括：

按照稀疏指数从小到大的顺序对每一预设样本点进行排序，并获取稀疏曲线；