[发明专利]一种样本点位置确定方法及系统

权利要求书

1.一种样本点位置确定方法，其特征在于，包括：

S1，根据平均采样面积和采样区域中每一预设样本点所在泰森多边形面积，获取每一预设样本点的稀疏指数，所述平均采样面积根据所述采样区域的面积和所有预设样本点的个数确定；

S2，根据每一预设样本点的稀疏指数，从中选取若干预设样本点作为稀疏样本点，将每一稀疏样本点所在的泰森多边形分别作为一个稀疏区域；

S3，对于任一稀疏区域，目标稀疏样本点为所述任一稀疏区域中的稀疏样本点，若判断获知所述任一稀疏区域与其它稀疏区域均相离，则在所述任一稀疏区域中增加一个加密样本点，对于所述目标稀疏样本点对应的加密样本点，所述加密样本点的位置根据所述目标稀疏样本点和所述目标稀疏样本点所在泰森多边形确定，并将所述加密样本点作为一个预设样本点；

S4，若判断获知所述任一稀疏区域只与一个其它稀疏区域相邻，将其它稀疏区域作为相邻稀疏区域，则在所述任一稀疏区域与所述相邻稀疏区域的公共边中点位置增加一个加密样本点；若判断获知所述任一稀疏区域与多个其它稀疏区域相邻，将其它稀疏区域作为相邻稀疏区域，则在所述任一稀疏区域与每一相邻稀疏区域的公共边中点位置都增加一个加密样本点，并将所有加密样本点作为预设样本点；

S5，重复步骤S1至S4，直至所述采样区域中不存在稀疏样本点为止，根据最后获得的每一预设样本点的位置，进行采样；

所述根据平均采样面积和采样区域中每一预设样本点所在泰森多边形面积，获取每一预设样本点的稀疏指数，具体包括：

其中，P_i表示第i个预设样本点的稀疏指数，S_i表示第i个预设样本点所在泰森多边形的面积，S_a表示所述平均采样面积；

所述加密样本点的位置根据所述目标稀疏样本点和所述目标稀疏样本点所在泰森多边形确定，具体计算公式如下：

Φ(x)＝D_max(x_i,y_ij)，

其中，Φ(x)表示所述加密样本点的位置，x_i表示第i个目标稀疏样本点，y_ij为第i个目标稀疏样本点所在泰森多边形的第j条边上的中点，D_max(x_i,y_ij)表示x_i和y_ij之间的最大距离。

2.根据权利要求1所述的样本点位置确定方法，其特征在于，步骤S2中，所述根据每一预设样本点的稀疏指数，从中选取若干预设样本点作为稀疏样本点，具体包括：

对于任一预设样本点，确定所述任一预设样本点的稀疏指数大于预设阈值，则将所述任一预设样本点作为稀疏样本点。

3.根据权利要求1所述的样本点位置确定方法，其特征在于，步骤S2中，所述根据每一预设样本点的稀疏指数，从中选取若干预设样本点作为稀疏样本点，具体包括：

按照稀疏指数从小到大的顺序对每一预设样本点进行排序，并获取稀疏曲线；

将所述稀疏曲线末端的突变点作为稀疏样本点。

4.根据权利要求1所述的样本点位置确定方法，其特征在于，步骤S1中，所述平均采样面积根据所述采样区域的面积和所有预设样本点的个数确定，具体为：

将所述采样区域的面积和所有预设样本点的个数的比值作为所述平均采样面积。