[发明专利]嵌入式设备检测方法、装置、设备及存储介质

说明书

本发明提供一种嵌入式设备检测方法，该方法包括：获取嵌入式设备的当前工作数据；将当前工作数据与标准工作数据进行比对，得到比对结果；若比对结果异常，获取嵌入式设备的目标监测图像；根据比对结果和目标监测图像对嵌入式设备进行检测，得到检测结果。通过检测嵌入式设备的工作数据以及嵌入式设备的当前的监测图像，结合运行状态以及外部结构情况综合判断，从而快速且准确的定位嵌入式设备出现的异常问题，并提供全面的故障信息，以便于进行维护。此外，本发明还提供一种嵌入式设备检测装置、设备及存储介质。

技术领域

本发明涉及嵌入式设备领域，尤其涉及一种嵌入式设备检测方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

在嵌入式设备中开发、调试、运行过程中，一般需要能够实时跟踪或者模拟主CPU及外设的状态和执行情况。在市面上有专门的硬件监控设备，可以对嵌入式设备进行检测。

但现有的监控设备检测具有局限性，不能检测硬件环境场景，导致检测的效果不好。

发明内容

基于此，有必要针对上述问题，提供一种嵌入式设备检测方法、装置、设备及存储介质。

第一方面，本发明实施例提供一种嵌入式设备检测方法，该方法包括：

获取嵌入式设备的当前工作数据；

将当前工作数据与标准工作数据进行比对，得到比对结果；

若比对结果异常，获取嵌入式设备的目标监测图像；

根据比对结果和目标监测图像对嵌入式设备进行检测，得到检测结果。

可选的，在获取嵌入式设备的当前工作数据的步骤之前，还包括：

获取嵌入式设备设置的初始工作参数对应的第一工作数据；

若第一工作数据不符合预设范围，则对嵌入式设备的工作参数进行调整，获取嵌入式设备调整后的工作参数对应的第二工作数据；

若第二工作数据不符合预设范围，则对嵌入式设备的工作参数再次进行调整，获取嵌入式设备再次调整后的工作参数对应的工作数据，直至得到的工作数据符合预设范围，将最后得到的工作数据确定为标准工作数据。

可选的，获取嵌入式设备的目标监测图像，包括：

获取摄像头拍摄嵌入式设备得到的当前监测图像，对当前监测图像进行分析，得到分析结果；

当分析结果不满足预设要求时，则获取分析结果中的缺陷类型；

根据缺陷类型调整摄像头的工作参数；

基于调整后的工作参数重新对嵌入式设备进行拍摄，得到新的监测图像，将新的监测图像作为当前监测图像，进入对当前监测图像进行分析，得到分析结果的步骤，直至分析结果满足预设要求，将分析结果满足预设要求的监测图像作为目标监测图像。

可选的，将当前工作数据与标准工作数据进行比对，得到比对结果，包括：

获取当前工作数据与标准工作数据的比对差值；

若比对差值符合第一预设差值或第二预设差值，则判定为比对结果异常，第一预设差值小于第二预设差值；否则判定为比对结果正常。

可选的，根据比对结果和目标监测图像对嵌入式设备进行检测，得到检测结果，包括：

若检测到比对差值符合第一预设差值，并且检测到目标监测图像中嵌入式设备结构无异常现象，则判定检测结果为可调整；

否则判定检测结果为不可调整。

可选的，在根据比对结果和目标监测图像对嵌入式设备进行检测，得到检测结果的步骤之后，还包括：