[发明专利]嵌入式设备检测方法、装置、设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 201911341927.0 申请日: 2019-12-24
公开(公告)号: CN113038067A 公开(公告)日: 2021-06-25
发明(设计)人: 赵树森 申请(专利权)人: 深圳怡化电脑股份有限公司;深圳市怡化时代科技有限公司;深圳市怡化金融智能研究院
主分类号: H04N7/18 分类号: H04N7/18;G08B21/18;G06T7/00
代理公司: 深圳中细软知识产权代理有限公司 44528 代理人: 唐楠
地址: 518000 广东省深圳市南山区粤海*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 嵌入式 设备 检测 方法 装置 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种嵌入式设备检测方法,其特征在于,包括:

获取嵌入式设备的当前工作数据;

将所述当前工作数据与标准工作数据进行比对,得到比对结果;

若所述比对结果异常,获取所述嵌入式设备的目标监测图像;

根据所述比对结果和所述目标监测图像对所述嵌入式设备进行检测,得到检测结果。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述获取嵌入式设备的当前工作数据的步骤之前,还包括:

获取所述嵌入式设备设置的初始工作参数对应的第一工作数据;

若所述第一工作数据不符合预设范围,则对所述嵌入式设备的工作参数进行调整,获取所述嵌入式设备调整后的工作参数对应的第二工作数据;

若所述第二工作数据不符合预设范围,则对所述嵌入式设备的工作参数再次进行调整,获取所述嵌入式设备再次调整后的工作参数对应的工作数据,直至得到的工作数据符合预设范围,将最后得到的工作数据确定为标准工作数据。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取所述嵌入式设备的目标监测图像,包括:

获取摄像头拍摄所述嵌入式设备得到的当前监测图像,对所述当前监测图像进行分析,得到分析结果;

当所述分析结果不满足预设要求时,则获取所述分析结果中的缺陷类型;

根据所述缺陷类型调整所述摄像头的工作参数;

基于调整后的工作参数重新对所述嵌入式设备进行拍摄,得到新的监测图像,将所述新的监测图像作为所述当前监测图像,进入对所述当前监测图像进行分析,得到分析结果的步骤,直至所述分析结果满足预设要求,将分析结果满足预设要求的监测图像作为所述目标监测图像。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述当前工作数据与标准工作数据进行比对,得到比对结果,包括:

获取所述当前工作数据与标准工作数据的比对差值;

若所述比对差值符合第一预设差值或第二预设差值,则判定为比对结果异常,所述第一预设差值小于所述第二预设差值;否则判定为比对结果正常。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述比对结果和所述目标监测图像对所述嵌入式设备进行检测,得到检测结果,包括:

若检测到所述比对差值符合第一预设差值,并且检测到所述目标监测图像中所述嵌入式设备结构无异常现象,则判定检测结果为可调整;

否则判定检测结果为不可调整。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,在所述根据所述比对结果和所述目标监测图像对所述嵌入式设备进行检测,得到检测结果的步骤之后,还包括:

若对所述嵌入式设备的检测结果为可调整,则对所述嵌入式设备进行参数调整或重启;

若对所述嵌入式设备的检测结果为不可调整,则发出故障警报。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

接收维护人员的控制指令;

根据所述控制指令调整摄像头的工作参数,获取调整参数后的监测图像;

根据所述控制指令导出工作日志,使得维护人员根据调整参数后的监测图像和导出的工作日志的内容进行分析及维护。

8.一种嵌入式设备检测装置,其特征在于,所述装置包括:

第一获取模块,用于获取嵌入式设备的当前工作数据;

数据比对模块,用于将所述当前工作数据与标准工作数据进行比对,得到比对结果;

第二获取模块,用于若所述比对结果异常,获取所述嵌入式设备的目标监测图像;

检测模块,用于根据所述比对结果和所述目标监测图像对所述嵌入式设备进行检测,得到检测结果。

9.一种嵌入式设备检测设备,包括处理器、存储器和摄像头组件,所述存储器中储存有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被所述处理器执行时,使得所述处理器执行如权利要求1至7所述任一种方法的步骤。

10.一种存储介质,储存有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时,使得所述处理器执行如权利要求1至7所述任一种方法的步骤。

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