[发明专利]存储芯片复位方法及成像设备有效
申请号: | 201911235002.8 | 申请日: | 2019-12-05 |
公开(公告)号: | CN110920260B | 公开(公告)日: | 2021-09-07 |
发明(设计)人: | 刘杏肖;其他发明人请求不公开姓名 | 申请(专利权)人: | 广州众诺电子技术有限公司 |
主分类号: | B41J2/175 | 分类号: | B41J2/175 |
代理公司: | 北京景闻知识产权代理有限公司 11742 | 代理人: | 卢春燕 |
地址: | 510663 广东省广州市高新技术产业*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 存储 芯片 复位 方法 成像 设备 | ||
1.一种存储芯片复位方法,其特征在于,包括:
获取耗材芯片的数据变化方式,其中,所述数据变化方式包括数据值增大的变化方式和数据值减小的变化方式;
获取所述耗材芯片的耗材信息存储区域及非访问区域;
根据所述数据变化方式改写所述耗材信息存储区域及非访问区域存储的数据值,其中,改写耗材信息存储区域存储的数据值为初始数据值,并将非访问区域存储的数据值按照所述数据变化方式变化;
其中,所述非访问区域的地址与所述耗材信息存储区域的地址相邻;
将所述耗材信息存储区域及非访问区域存储的数据值作为一个整体,并将该整体的数据值增大或者减小预设值,直至将所述耗材信息存储区域存储的数据值改写为初始数据值,其中,所述非访问区域存储的数据值也随之增大或减小。
2.根据权利要求1所述的存储芯片复位方法,其特征在于,所述将所述耗材信息存储区域及非访问区域存储的数据值作为一个整体,并将该整体的数据值增大或者减小预设值,直至将所述耗材信息存储区域存储的数据值改写为初始数据值,包括:
改写所述耗材信息存储区域中第N地址存储的数据值为初始数据值,并将第N+1地址存储的数据值增大或者减小所述预设值;
依次改写所述耗材信息存储区域中的数据值,直至所述耗材信息存储区域存储的所有数据值改写为对应的初始数据值之后,将与耗材信息存储区域中最高位地址相邻的非访问区域的地址中存储的数据值随之增大或减小。
3.根据权利要求2所述的存储芯片复位方法,其特征在于,所述预设值为1。
4.根据权利要求1-3任一项所述的存储芯片复位方法,其特征在于,将所述耗材信息存储区域及非访问区域存储的数据值作为一个整体,还包括:
所述预设值等于改写后的所述整体的数据值减去改写前的所述整体的数据值的绝对值;
其中,改写后的所述整体的数据值中所述耗材信息存储区存储的数据值为初始数据值,所述非访问区域存储的数据值在改写前与改写后不相同。
5.根据权利要求1-3任一项所述的存储芯片复位方法,其特征在于,所述方法还包括:
判断所述耗材信息存储区域是否与所述非访问区域相邻;
如果是,根据所述数据变化方式改写所述非访问区域的数据值;
如果否,不对所述非访问区域的数据值进行改写,改写与耗材信息存储区域中最高位地址相邻的其他地址的数据值。
6.根据权利要求1-3任一项所述的存储芯片复位方法,其特征在于,所述方法还包括:
判断所述耗材信息存储区域存储的数据值是否为原始数据;
如果是,根据所述数据变化方式改写所述耗材信息存储区域及非访问区域的数据值;
如果否,则不对所述数据值进行改写。
7.根据权利要求1-3任一项所述的存储芯片复位方法,其特征在于,所述方法还包括:
根据所述耗材信息存储区域存储的数据值判断所述耗材芯片的容量是否为满;
如果否,根据所述数据变化方式按照从低位地址向高位地址依次改写所述耗材信息存储区域存储的数据值。
8.一种成像设备,其特征在于,包括:
存储器,所述存储器上存储有计算机程序;
与所述存储器连接的处理器,所述计算机程序被所述处理器执行时可实现如权利要求1-7任一项所述的存储芯片复位方法。
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