[发明专利]一种卷式膜元件气密性测试的系统及方法

说明书

本发明提供卷式膜元件气密性测试的系统，包括膜元件定位装置和高压检测装置，膜元件定位装置包括圆筒状的膜壳、设置在膜壳两端的封堵件，高压检测装置包括高压气管以及设置在高压气管上的气压调节阀、控制阀和压力传感器，高压气管第一端插入封堵件后与膜壳内待检测的膜元件的中心管连通。一种膜元件气密性测试的方法，包括以下步骤：S1、放置膜元件，安装封堵件和高压气管；S2、向膜元件内部充气，达到最大充气压力值时，关闭并保持压力1min，检测并记录压力下降值；S3、计算压降率，对比压降率标准值范围，判定待测试膜元件合格性。本方案单支膜元件通过一次测试即可确定其气密性是否合格，可准确判断膜元件由于边胶异常导致气密性不合格的情况。

技术领域

本发明属于膜元件生产技术领域，具体涉及一种卷式膜元件气密性测试的方法。

背景技术

根据《中华人民共和国海洋行业标准HY/T 107-2017》文件规定，目前国内反渗透膜制造行业针对卷式膜元件的气密性测试方法为真空负压检测，具体为：将膜元件充分湿润；用封堵件将膜元件中心管一端封闭，另一端与水循环式真空泵和真空压力表连接，确保无泄漏；启动真空泵，待真空压力表示数为-20KPa时，停止抽真空并保压1min，期间记录压力表示数变化，重复测试3次；如果真空度下降速率大于20KPa/min时，表明所检测的膜元件存在泄漏，气密性不合格，反之则气密性合格。

这种检测卷式膜元件气密性的方法存在有以下两点不足：

①无法检测出膜元件中心管无集水孔的致命性质量缺陷和异常现象；

②通过抽真空方式检测气密性存在检测不准确的情况，这是由于当膜元件被抽成负压时，膜页会受大气压影响，互相间压得很紧，这样若存在很小的胶线隧道或者胶水不干情况，可能无法通过检测膜元件气密性来判断膜元件是否合格，还会存在膜元件产水端侧的空气残留和窜流现象，进而影响结果判断。

综上所述，现在亟需研发出一种新的卷式膜元件气密性测试的系统和方法，以克服现有的负压检测法所存在的不足。

发明内容：

本发明目的是提供了一种卷式膜元件气密性测试的方法，要解决现有技术中采用真空负压检测卷式膜元件气密性所存在的技术问题，以实现气检结果准确，可严格控制产品质量标准的目的。

为实现以上目的，本发明采用如下技术方案：

一种卷式膜元件气密性测试的系统，包括膜元件定位装置和高压检测装置，所述膜元件定位装置包括圆筒状的膜壳、设置在所述膜壳两端的封堵件，所述高压检测装置包括高压气管以及设置在所述高压气管上的气压调节阀、控制阀和压力传感器，所述高压气管第一端插入所述封堵件后与所述膜壳内待检测的膜元件的中心管连通。

优选的，所述膜元件定位装置还包括气缸或油缸，所述气缸或油缸将所述封堵件压紧于所述膜壳的端部。

优选的，所述高压检测装置还包括与所述高压气管第二端连通的高压空压机。

优选的，与所述高压气管连接的所述封堵件内部设置有与高压气管配合的通过孔，另一封堵件为实心结构。

本发明还提供一种膜元件气密性测试的方法，采用上述的卷式膜元件气密性测试系统进行测试，包括以下步骤：

S1、将待测试的膜元件放置到膜壳内部，采用封堵件将膜壳第二端以及膜元件中心管同时密封，然后将高压气管第一端插入封堵件后末端置于待测试膜元件中心管内，再采用该封堵件将膜壳端部密封；

S2、通过高压气管向膜元件内部充气，待达到设置的最大充气压力值时，关闭控制阀并保持压力1min，压力传感器检测并记录1min结束时的压力下降值；

S3、根据所述步骤S2中所记录的压力下降值，计算出压降率，若压降率处于设定的压降率标准值范围内，则判定所测试膜元件的气密性合格，反之则判定为所测试膜元件的气密性不合格。