[发明专利]一种卷式膜元件气密性测试的系统及方法

权利要求书

1.一种卷式膜元件气密性测试的系统，其特征在于，包括膜元件定位装置和高压检测装置，所述膜元件定位装置包括圆筒状的膜壳、设置在所述膜壳两端的封堵件，所述高压检测装置包括高压气管以及设置在所述高压气管上的气压调节阀、控制阀和压力传感器，所述高压气管第一端插入所述封堵件后与所述膜壳内待检测的膜元件的中心管连通。

2.根据权利要求1所述的卷式膜元件气密性测试的系统，其特征在于，所述膜元件定位装置还包括气缸或油缸，所述气缸或油缸将所述封堵件压紧于所述膜壳的端部。

3.根据权利要求2所述的卷式膜元件气密性测试的系统，其特征在于，所述高压检测装置还包括与所述高压气管第二端连通的高压空压机。

4.根据权利要求2所述的卷式膜元件气密性测试的系统，其特征在于，与所述高压气管连接的所述封堵件内部设置有与高压气管配合的通过孔，另一封堵件为实心结构。

5.一种膜元件气密性测试的方法，其特征在于，采用如权利要求1至4任意一项所述的卷式膜元件气密性测试系统进行测试，包括以下步骤：

S1、将待测试的膜元件放置到膜壳内部，采用封堵件将膜壳第二端以及膜元件中心管同时密封，然后将高压气管第一端插入封堵件后末端置于待测试膜元件中心管内，再采用该封堵件将膜壳端部密封；

S2、通过高压气管向膜元件内部充气，待达到设置的最大充气压力值时，关闭控制阀并保持压力1min，压力传感器检测并记录1min结束时的压力下降值；

S3、根据所述步骤S2中所记录的压力下降值，计算出压降率，若压降率处于设定的压降率标准值范围内，则判定所测试膜元件的气密性合格，反之则判定为膜元件的气密性不合格。

6.根据权利要求5所述的卷式膜元件气密性测试的方法，其特征在于，所述步骤S3中的压降率的计算方法为：压降率压力下降值/最大充气压力值*100％。

7.根据权利要求6所述的卷式膜元件气密性测试的方法，其特征在于，所述步骤S2中的最大充气压力值的范围为50-80KPa，根据所检测的不同膜元件类型特性确定最大充气压力值的具体数值。

8.根据权利要求6所述的卷式膜元件气密性测试的方法，其特征在于，所述步骤S3中压降率标准值范围为：最大压降率为10％-20％，根据所检测的不同膜元件类型特性确定最大压降率的具体数值；最小压降率为1％，当压降率处于最大压降率和最小压降率的数值之间，则判定所检测膜元件气密性合格。