[发明专利]基于电化学的加工装置和方法有效

专利信息
申请号: 201911119575.4 申请日: 2019-11-15
公开(公告)号: CN112899740B 公开(公告)日: 2022-04-19
发明(设计)人: 季鹏凯 申请(专利权)人: 源秩科技(上海)有限公司
主分类号: C25D5/02 分类号: C25D5/02;C25D17/02;C25D21/00;C25F3/02;C25F7/00;B33Y10/00;B33Y30/00;B33Y40/00
代理公司: 上海泰能知识产权代理事务所(普通合伙) 31233 代理人: 宋缨
地址: 201207 上海市浦东新区中国*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基于 电化学 加工 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种基于电化学的加工装置,包括成型平台(1)、光源(5)、电源(6)、离子液箱(31)及沉积模型(4),其特征在于:还包括至少一个成型机构,所述成型机构设置于可导电的成型平台(1)的下方且与成型平台(1)之间可相对移动,所述成型机构包括光电轮(2),所述离子液箱(31)中储存有离子液(3),所述光电轮(2)可转动且部分浸没于离子液(3)中,所述离子液(3)被转动的光电轮(2)带至所述光电轮(2)与所述成型平台(1)之间并形成离子液层(39),所述光电轮(2)包括相互结合的内层透明导电层(21)和外层光控导电层(22),所述透明导电层(21)与电源(6)的一极电连接,所述成型平台(1)与电源(6)的另一极电连接,所述光源(5)发出的光束(51)向成型平台(1)的方向透过所述透明导电层(21)可选择性地照射光控导电层(22)。

2.根据权利要求1所述的一种基于电化学的加工装置,其特征在于:所述光控导电层(22)为光导材料层。

3.根据权利要求1所述的一种基于电化学的加工装置,其特征在于:所述光控导电层(22)为由N型半导体层(221)和P型半导体层(222)结合构成的PN结结构,当该加工装置进行电沉积加工时,所述P型半导体层(222)位于N型半导体层(221)的外侧,当该加工装置进行电蚀刻加工时,所述N型半导体层(221)位于P型半导体层(222)的外侧。

4.根据权利要求1所述的一种基于电化学的加工装置,其特征在于:所述光控导电层(22)为PNP型光电三极管阵列结构,当该加工装置进行电沉积加工时,所述光控导电层(22)包括相互结合的内层N型半导体层(221)和外层P型半导体层(222),所述N型半导体层(221)设置有P型半导体阵列(225),所述P型半导体阵列(225)与透明导电层(21)之间形成电连接,所述透明导电层(21)与电源(6)的正极电连接;当该加工装置进行电蚀刻加工时,所述光控导电层(22)包括相互结合的外层N型半导体层(221)和内层P型半导体层(222),所述N型半导体层(221)设置有P型半导体阵列(225),所述P型半导体层(222)与透明导电层(21)形成电连接,所述透明导电层(21)与电源(6)的负极电连接,或者,所述光控导电层(22)为NPN型光电三极管阵列结构,当该加工装置进行电沉积加工时,所述光控导电层(22)包括相互结合的内层N型半导体层(221)和外层P型半导体层(222),所述P型半导体层(222)设置有N型半导体阵列(224),所述N型半导体层(221)与透明导电层(21)之间形成电连接,所述透明导电层(21)与电源(6)的正极电连接;当该加工装置进行电蚀刻加工时,所述光控导电层(22)包括相互结合的内层P型半导体层(222)和外层N型半导体层(221),所述P型半导体层(222)设置有N型半导体阵列(224),所述N型半导体阵列(224)与透明导电层(21)之间形成电连接,所述透明导电层(21)与电源(6)的负极电连接。

5.根据权利要求1所述的一种基于电化学的加工装置,其特征在于:所述离子液箱(31)设置于可导电的成型平台(1)的下方且与成型平台(1)之间可相对移动。

6.根据权利要求1-5中任意一项 所述的一种基于电化学的加工装置,其特征在于:当该加工装置进行电沉积加工时,所述透明导电层(21)与电源(6)的正极电连接,所述成型平台(1)与电源(6)的负极电连接;当该加工装置进行电蚀刻加工时,所述透明导电层(21)与电源(6)的负极电连接,所述成型平台(1)与电源(6)的正极电连接。

7.根据权利要求5所述的一种基于电化学的加工装置,其特征在于:所述成型机构可以沿第一导轨(71)与所述成型平台(1)进行水平方向相对移动,所述成型平台(1)可以沿第二导轨(72)竖直方向移动。

8.根据权利要求5所述的一种基于电化学的加工装置,其特征在于:将可导电的基板(45)固定到所述成型平台(1)上,在所述基板(45)上进行电蚀刻形成蚀刻凹槽(49)。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于源秩科技(上海)有限公司,未经源秩科技(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911119575.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top