[发明专利]存储器、电子显微镜颗粒几何性质测定方法、设备和装置

权利要求书

1.一种电子显微镜颗粒几何性质测定方法，其特征在于，包括步骤：

S11、根据获取自电子显微镜的各颗粒图像，分别生成对应的包括有由灰度值矩阵数据描述的灰度图像的灰度图像信息；

S12、根据所述颗粒图像的标尺及灰度矩阵规模，建立图像像素与图像观测尺度的对应关系；

S13、根据预设的灰度图像阈值将所述灰度图像转化为二值图像，并生成相应的二值图像矩阵；

S14、通过对所述二值图像中分离的点进行聚类，获得所述灰度图像中各颗粒的像素位置及像素数量信息；

S15、获取所述灰度图像中颗粒的几何性质，包括：计算各颗粒的重心位置、面积和当量半径；根据各所述颗粒的重心位置计算该颗粒体系的最近邻近距离NND；

S16、对所获得颗粒体系的当量半径和NND进行频数分布计算获得所述电子显微镜观测的颗粒系统整体几何信息。

2.根据权利要求1所述的电子显微镜颗粒几何性质测定方法，其特征在于，所述颗粒图像的格式包括：

BMP格式、HDF格式、PCX格式、JPEG格式和TIFF格式中的一种及其任意混合构成。

3.根据权利要求1所述的电子显微镜颗粒几何性质测定方法，其特征在于，所述由灰度值矩阵数据描述的灰度图像，包括：

其数据结构为一个uint8型二维矩阵，其数据范围为[0,255]。

4.根据权利要求3所述的电子显微镜颗粒几何性质测定方法，其特征在于，所述灰度图像信息包括：

所述uint8型二维矩阵两个维度的大小以及所述uint8型二维矩阵的所有灰度数据数值。

5.根据权利要求4所述的电子显微镜颗粒几何性质测定方法，其特征在于，所述根据所述颗粒图像的标尺及灰度矩阵规模，建立图像像素与图像观测尺度的对应关系，包括：

S21、测定所述灰度图像的长度及宽度尺寸a和b。

S22、计算所述灰度图像的图像像素与图像观测尺度的对应关系p，所述对应关系p代表所述颗粒图像中每个像素所代表的观测尺度；计算公式包括公式(1)或公式(2)：

P＝R*a/m 公式(1)；

P＝R*b/n 公式(2)；

其中，R为标尺数，m和n为灰度值矩阵两个尺度的数量规模。

6.根据权利要求5所述的电子显微镜颗粒几何性质测定方法，其特征在于，所述根据预设的灰度图像阈值将所述灰度图像转化为二值图像，并生成相应的二值图像矩阵，包括：

S31、预设的灰度图像阈值为0-255之间的一个uint8型数据；

S32、将所述灰度图像转化为二值图像，包括：当所述灰度图像的灰度值矩阵在某点处的灰度值小于所述灰度图像阈值时将该点处的矩阵元取值为0，否则该点处矩阵元的取值为1。