[发明专利]检测装置

说明书

本发明提供一种检测装置，该检测装置包括：供电组件、光检测组件以及导光组件，供电组件包括供电头，供电头用于与待检测的发光二极管电连接，以使待检测的发光二极管发光；导光组件用于将待检测的发光二极管发出的光线传导至光检测组件；光检测组件接收光线后形成光谱，通过光谱可以判断出待检测的发光二极管在带电后是否正常工作，检测直观且较为准确。

技术领域

本发明涉及显示设备检测技术领域，尤其涉及一种检测装置。

背景技术

随着显示设备技术的发展，微发光二极管显示装置以其较高的亮度以及较长的使用寿命逐渐得到广泛的应用。微发光二极管显示装置在制作时一般先将多个微发光二极管呈阵列状的生长在蓝宝石衬底上，之后再将各微发光二极管安装在基板上，以形成微发光二极管显示装置。

相关技术中，在各微发光二极管生长在蓝宝石衬底上之后，需要通过检测装置对微发光二极管进行检测；然而，现有的微发光二极管的检测装置存在各种缺陷，例如无法获知微发光二极管能否正常工作的技术问题。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种检测装置，以解决无法获知微发光二极管能否正常工作的技术问题。

本发明实施例提供了一种检测装置，包括：供电组件、光检测组件以及导光组件，所述供电组件包括供电头，所述供电头用于与待检测的发光二极管电连接，以使所述待检测的发光二极管发光；所述导光组件用于将待检测的发光二极管发出的光线传导至所述光检测组件。

如上所述的检测装置，其中，所述供电组件包括与所述供电头连接的电检测设备，所述电检测设备用于检测所述待检测的发光二极管的电流和/或电压。通过电检测设备可以检测出待检测的发光二极管的电流和/或电压，进而根据电流和/或电压进一步判断待检测的发光二极管是否正常工作，以提高检测精度。

如上所述的检测装置，其中，所述供电头包括第一探针和第二探针，所述第一探针用于与所述待检测的发光二极管的一个电极电连接，所述第二探针用于与所述待检测的发光二极管的另一电极电连接。由于待检测的发光二极管上的电极较小，通过第一探针与一个电极接触，第二探针与另一电极接触，可以减小与待检测的发光二极管上电极的接触面积，进而避免在检测的过程中，导致待检测的发光二极管电极损坏；另外，还可以避免阻挡光线射向入光端。

如上所述的检测装置，其中，所述供电头为多个，每一所述供电头用于与一个所述待检测的发光二极管电连接。可以同时驱动多个待检测的发光二极管发光，同时检测多个待检测的发光二极管，提高检测速率。

如上所述的检测装置，其中，所述导光组件包括光纤。可以减小光线在导光组件内传导的损失；另外，光纤的柔性较好，可以对光纤进行弯折。

如上所述的检测装置，其中，所述检测装置还包括光源以及图像采集装置，所述光源发出的光线照射在所述待检测的发光二极管上；所述图像采集装置用于采集所述待检测的发光二极管反射的光线。可获取蓝宝石衬底上的多个待检测的发光二极管的图像，进而根据图像判断待检测的发光二极管的外延生长情况和外观。

如上所述的检测装置，其中，所述检测装置还包括位于所述图像采集装置和所述待检测的发光二极管之间的透镜组件，所述透镜组件用于将光线汇聚在所述图像采集装置上。光线汇聚后被图像采集装置接收，可以提高图像采集装置的获取图像的清晰度。

如上所述的检测装置，其中，所述透镜组件包括间隔设置的第一透镜组件和第二透镜组件，所述第一透镜组件和所述第二透镜组件均包括至少一个凸透镜，所述第一透镜组件和所述第二透镜组件的主光轴共线设置，所述第二透镜组件位于所述第一透镜组件和所述图像采集装置之间。提高了对待检测的发光二极管反射的光线的汇聚作用，另外，可以对待检测的发光二极管的图像进行放大，放大后的图像被图像采集装置接收，以便于对图像进行分析。