[发明专利]检测装置在审

专利信息
申请号: 201910979512.X 申请日: 2019-10-15
公开(公告)号: CN112665825A 公开(公告)日: 2021-04-16
发明(设计)人: 赵改娜 申请(专利权)人: 成都辰显光电有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01R31/26
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 张宁;刘芳
地址: 611731 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种检测装置,其特征在于,包括:供电组件、光检测组件以及导光组件,所述供电组件包括供电头,所述供电头用于与待检测的发光二极管电连接,以使所述待检测的发光二极管发光;

所述导光组件用于将待检测的发光二极管发出的光线传导至所述光检测组件。

2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述供电组件包括与所述供电头连接的电检测设备,所述电检测设备用于检测所述待检测的发光二极管的电流和/或电压。

3.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述供电头包括第一探针和第二探针,所述第一探针用于与所述待检测的发光二极管的一个电极电连接,所述第二探针用于与所述待检测的发光二极管的另一电极电连接。

4.根据权利要求3所述的检测装置,其特征在于,所述供电头为多个,每一所述供电头用于与一个所述待检测的发光二极管电连接。

5.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述导光组件包括光纤。

6.根据权利要求1-5任一项所述的检测装置,其特征在于,所述检测装置还包括光源以及图像采集装置,所述光源发出的光线照射在所述待检测的发光二极管上;所述图像采集装置用于采集所述待检测的发光二极管反射的光线。

7.根据权利要求6所述的检测装置,其特征在于,所述检测装置还包括位于所述图像采集装置和所述待检测的发光二极管之间的透镜组件,所述透镜组件用于将光线汇聚在所述图像采集装置上。

8.根据权利要求7所述的检测装置,其特征在于,所述透镜组件包括间隔设置的第一透镜组件和第二透镜组件,所述第一透镜组件和所述第二透镜组件均包括至少一个凸透镜,所述第一透镜组件和所述第二透镜组件的主光轴共线设置,所述第二透镜组件位于所述第一透镜组件和所述图像采集装置之间。

9.根据权利要求8所述的检测装置,其特征在于,所述光源呈环形,所述光源围设在所述第一透镜组件的外侧。

10.根据权利要求6-9任一项所述的检测装置,其特征在于,所述导光组件包括入光端和出光端,所述入光端朝向所述待检测的发光二极管设置,所述出光端与所述光检测组件连接,且所述入光端设置在所述光源上。

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