[发明专利]一种用于智能卡芯片多通道同测的嵌入式软件实现方法在审
| 申请号： | 201910955837.4 | 申请日： | 2019-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN111025121A | 公开（公告）日： | 2020-04-17 |
| 发明（设计）人： | 崔丽华;戴昭君;蒋艳;林秋;朱建中 | 申请（专利权）人： | 上海华虹集成电路有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 智能卡 芯片 通道 嵌入式 软件 实现 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于智能卡芯片多通道同测的嵌入式软件实现方法，其特征在于：主控端测试程序发送启动测试命令，测试设备上的嵌入式软件正确接收后，将集成所有生产测试指令，并分发给测试子板；每块测试子板完成单通道测试，如果测试过程中，某通道测试失败，则关闭该通道；后续测试指令将屏蔽该通道，直到所有通道测试完毕；嵌入式软件对返回的数据进行整理打包后，将测试结果以报文方式输出。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于：配置当前通道号，并启动测试；当测试完成后，对其结果进行判断，如果与预期不一致，则设置当前通道的结果为Fail，关闭此通道；反之继续后续的测试任务。
3.如权利要求1或2述的方法，其特征在于：通过一套测试设备即可完成多通道同测，该测试设备由嵌入式软件实现对智能卡芯片生产测试任务的程序和一条启动生产测试任务的应用协议数据单元(APDU)命令组成。
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于：生产测试完成后将测试结果以报文方式输出，记录所有测试项的测试结果外，以结果状态字“0x00”正确/“0x01”错误作为测试结果标记，详尽的数据信息，便于后续生产信息跟踪及工程数据分析。
5.如权利要求3或4所述的方法，其特征在于：测试设备上的嵌入式软件集成所有测试指令，并通过一条启动生产测试任务的APDU命令。
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