[发明专利]测量装置和测量方法

权利要求书

1.一种测量装置，其特征在于包括：

发光部，照射与成为被测量对象的光纤光学部件耦合的脉冲光；

受光部，检测被测量光，所述被测量光基于由所述发光部照射的所述脉冲光产生且向与所述脉冲光的传播方向相反方向传播；以及

控制部，基于由所述受光部检测的所述被测量光的检测信号，计算与所述光纤光学部件关联的参数，

所述控制部判断计算的所述参数是否超过规定阈值，判断为计算的所述参数超过了规定阈值时，使所述脉冲光的平均强度下降。

2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，

所述控制部基于所述检测信号，取得将纵轴作为所述被测量光的光强度且将横轴作为距离的测量波形，

所述控制部设定所述测量波形中的规定的距离位置，并且计算设定的所述规定的距离位置的所述参数。

3.根据权利要求2所述的测量装置，其特征在于，

所述光纤光学部件包括光纤，

所述被测量光包括在所述测量装置中的与所述光纤的耦合部反射的反射光，

所述规定的距离位置与所述耦合部对应。

4.根据权利要求3所述的测量装置，其特征在于，

所述参数包括反射衰减量，

所述控制部基于所述反射光的所述检测信号来计算所述耦合部中的所述反射衰减量，

所述控制部判断为计算的所述反射衰减量比规定阈值小时使所述脉冲光的平均强度下降。

5.根据权利要求3或4所述的测量装置，其特征在于，

所述参数包括所述反射光的光强度，

所述控制部基于所述反射光的所述检测信号来计算所述耦合部中的所述反射光的光强度，

所述控制部判断为计算的所述反射光的光强度比规定阈值大时使所述脉冲光的平均强度下降。

6.一种测量方法，其特征在于包括：

照射步骤，照射与成为测量装置的被测量对象的光纤光学部件耦合的脉冲光；

检测步骤，检测被测量光，所述被测量光基于照射的所述脉冲光产生且向与所述脉冲光的传播方向相反方向传播；

计算步骤，基于检测的所述被测量光的检测信号，计算与所述光纤光学部件关联的参数；

判断步骤，判断计算的所述参数是否超过规定阈值；以及

控制步骤，判断为计算的所述参数超过了规定阈值时，使所述脉冲光的平均强度下降。

7.根据权利要求6所述的测量方法，其特征在于，

在所述计算步骤中，

基于所述检测信号取得将纵轴作为所述被测量光的光强度且将横轴作为距离的测量波形，

设定所述测量波形中的规定的距离位置并计算设定的所述规定的距离位置中的所述参数。

8.根据权利要求7所述的测量方法，其特征在于，

所述光纤光学部件包括光纤，

所述被测量光包括在所述测量装置中的与所述光纤的耦合部反射的反射光，

所述规定的距离位置与所述耦合部对应。

9.根据权利要求8所述的测量方法，其特征在于，

所述参数包括反射衰减量，

在所述计算步骤中，基于所述反射光的所述检测信号，计算所述耦合部中的所述反射衰减量，

在所述判断步骤中，判断为计算的所述反射衰减量比规定阈值小时，在所述控制步骤中，所述脉冲光的平均强度下降。

10.根据权利要求8或9所述的测量方法，其特征在于，

所述参数包括所述反射光的光强度，

在所述计算步骤中，基于所述反射光的所述检测信号来计算所述耦合部中的所述反射光的光强度，

在所述判断步骤中，判断为计算的所述反射光的光强度比规定阈值大时，在所述控制步骤中，所述脉冲光的平均强度下降。