[发明专利]一种样品制备工艺方法

说明书

本发明提供一种样品制备工艺方法，包括：将具有表面缺陷的钢材进行切割，形成待测样品；根据待测样品的尺寸对辅助钢材进行切割，形成辅助样品，辅助样品的厚度为1～2mm，辅助样品及待测样品的平直度保持一致；利用双面铜导电胶将待测样品及辅助样品粘结，形成组合样品，双面铜导电胶与待测样品的待磨制边的距离为2～3mm；对组合样品进行缠绕固定，缠绕固定后，待测样品与辅助样品之间的缝隙为0.05～0.15mm；利用磨抛机对所述缠绕固定后的组合样品的待检测面进行打磨，磨制完成后，拆掉辅助样品；对磨制后的待测样品进行超声波清洗、烘干；对待测样品的待检测面进行清洁后，标记待检测面的缺陷。

技术领域

本发明属于样品制备技术领域，尤其涉及一种样品制备工艺方法。

背景技术

在钢铁生产过程中经常会有一些表面缺陷的板卷，那么就需要在科研过程中进行问题成因分析。

目前一般是利用扫描电子显微镜(SEM，Scanning Electron Microscope)对样品进行观察分析。一般来说，样品的截面分析结果最具有代表性，表面缺陷类截面样品就需要更好的保证截面边部缺陷处样品制备的完美，既不能把缺陷磨抛掉，又要最大限度的呈现缺陷最原始形貌和成分。这样才能确保样品截面分析结果的精度及准确性。

但是现有技术中的常规制样方法(比如镶嵌、胶水粘合等)都存在不同程度的制备缺陷，比如会造成样品边部缺陷的变形损坏、污染或者难以定位缺陷位置，导致分析的准确率较低，不能为实际生产中的工艺改进、产品质量提升提供客观准确的数据，最终导致不能确保产品质量。

发明内容

针对现有技术存在的问题，本发明实施例提供了一种样品制备工艺方法，用于解决现有技术中常规制样方法会造成样品边部的变形、损坏或者污染等，导致对样品的分析结果不准，不能为实际生产中的工艺改进、产品质量提升提供客观准确的数据，最终导致不能确保产品质量的技术问题。

本发明提供一种样品制备工艺方法，其特征在于，所述方法包括：

将具有表面缺陷的钢材进行切割，形成待测样品；

根据所述待测样品的尺寸对辅助钢材进行切割，形成辅助样品，所述辅助样品的厚度为1～2mm，所述辅助样品及所述待测样品的平直度保持一致；

利用双面铜导电胶将所述待测样品及所述辅助样品粘结，形成组合样品，所述双面铜导电胶与所述待测样品的待磨制边的距离为2～3mm；

对所述组合样品进行缠绕固定，缠绕固定后，所述待测样品与所述辅助样品之间的缝隙为0.05～0.15mm；

利用磨抛机对所述缠绕固定后的组合样品的待检测面进行打磨，磨制完成后，拆掉所述辅助样品；

对磨制后的所述待测样品进行超声波清洗、烘干；

对所述待测样品的待检测面进行清洁后，标记所述待检测面的缺陷。

上述方案中，所述根据所述待测样品的尺寸对辅助样品进行切割，形成辅助样品后，包括：

利用200目的砂纸对所述辅助样品及所述待测样品的加工毛刺进行打磨。

上述方案中，所述对所述组合试样进行缠绕固定，包括：

利用透明胶带对所述组合试样进行缠绕固定。

上述方案中，所述利用磨抛机对所述缠绕固定后的所述组合样品的待检测面进行打磨，包括：

利用所述磨抛机对所述组合样品的待检测面进行一次粗磨，一次粗磨过程的磨制参数包括：磨制转速为700～900r/min，磨制力为5～35N，磨制时间为15～30s，砂纸的目数为200目；