[发明专利]一种调试方法及调试单元

说明书

本申请提供一种调试方法及调试单元，涉及电子领域，调试方法应用于芯片中，调试单元与目标单元通过片上总线相连，方法包括：调试单元获取各个子目标单元的调试输出数据，调试输出数据是各个子目标单元针对调试输入信号进行处理得到的处理结果；调试单元将各个子目标单元的调试输出数据转换为各个像素数据，并根据各个像素数据确定调试图像数据；调试单元根据调试图像数据确定运行异常的各子目标单元以及运行异常的各子目标单元的异常原因，进一步的，调试单元还可以根据机器学习的方法确定运行异常的各子目标单元以及运行异常的各子目标单元的异常原因。本申请实施例的调试方法不受屏幕输出分辨率的限制，通用性好，灵活度高。

技术领域

本发明实施例涉及电子领域，尤其涉及一种调试方法及调试单元。

背景技术

FPGA(Field-Programmable Gate Array)，即现场可编程门阵列，作为专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)领域中的一种半定制电路，FPGA的逻辑块和连接可以按照用户的需要而改变，通过可编辑的连接把FPGA内部的逻辑块连接起来，所以FPGA可以完成所需要的逻辑功能。FPGA既解决了定制电路的不足，又克服了原有可编程器件门电路数有限的缺点，所以FPGA技术得到广泛的应用。

针对FPGA的调试，现有技术通过将FPGA芯片中的待调试电路的信号转换为显示信号，并通过显示设备进行显示，通过显示设备显示的显示信号来调试FPGA。

但是现有技术中，由于在对FPGA调试时，需要额外的显示设备才能进行FPGA，不能广泛应用于各种FPGA调试场景，并且由于受到显示设备的显示像素限制，当显示信号超过显示设备的分辨率时候，部分显示信号会丢失。

综上所述，现有技术中不能提供一种应用范围广且调试准确性高的调试方法。

发明内容

本申请实施例提供一种调试方法及调试单元，为芯片调试提供范围广且调试准确性高的调试方法。

一方面，本申请实施例提供一种调试方法，所述调试方法应用于芯片中，所述芯片至少包括目标单元以及调试单元，所述调试单元与所述目标单元通过片上总线相连，所述目标单元由多个子目标单元构成，各个子目标单元是根据所述目标单元的功能确定的，所述方法包括：

所述调试单元获取各个子目标单元的调试输出数据，所述调试输出数据是各个子目标单元针对调试输入信号进行处理得到的处理结果；

所述调试单元将各个子目标单元的调试输出数据转换为各个像素数据，并根据各个像素数据确定调试图像数据；

所述调试单元根据所述调试图像数据确定运行异常的各子目标单元以及运行异常的各子目标单元的异常原因。

一方面，本申请实施例提供一种调试单元，所述调试单元与目标单元位于同一芯片中，所述调试单元与所述目标单元通过片上总线相连，所述目标单元由多个子目标单元构成，各个子目标单元是根据所述目标单元的功能确定的，所述调试单元包括：

获取模块，用于获取各个子目标单元的调试输出数据，所述调试输出数据是各个子目标单元针对调试输入信号进行处理得到的处理结果；

数据处理模块，用于将各个子目标单元的调试输出数据转换为各个像素数据，并根据各个像素数据确定调试图像数据；

异常检测模块，用于根据所述调试图像数据确定运行异常的各子目标单元以及运行异常的各子目标单元的异常原因。

可选的，述调试输出数据为二进制数据，所述数据处理模块具体用于：

将各个子目标单元的调试输出数据转换为十进制数据；

将转换后的调试输出数据作为各个像素的像素值。