[发明专利]一种调试方法及调试单元

权利要求书

1.一种调试方法，其特征在于，所述调试方法应用于芯片中，所述芯片至少包括目标单元以及调试单元，所述调试单元与所述目标单元通过片上总线相连，所述目标单元由多个子目标单元构成，各个子目标单元是根据所述目标单元的功能确定的，所述方法包括：

所述调试单元获取各个子目标单元的调试输出数据，所述调试输出数据是各个子目标单元针对调试输入信号进行处理得到的处理结果；

所述调试单元将各个子目标单元的调试输出数据转换为各个像素数据，并根据各个像素数据以及所述各个子目标单元的设定顺序，确定调试图像数据，所述各个像素数据的数量是根据所述各个子目标单元的数量确定的；

所述调试单元根据所述调试图像数据确定运行异常的各子目标单元以及运行异常的各子目标单元的异常原因。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述调试输出数据为二进制数据，所述调试单元将各个子目标单元的调试输出数据转换为各个像素数据，包括：

所述调试单元将各个子目标单元的调试输出数据转换为十进制数据；

所述调试单元将转换后的调试输出数据作为各个像素的像素值。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述调试图像数据由三个维度的子调试图像数据构成，每一维度的子调试图像数据包括的像素个数是根据子目标单元的数量确定的。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，每一维度的子调试图像数据包括的像素个数相同。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述调试单元根据各个像素数据确定调试图像数据，包括：

所述调试单元根据各个子目标单元的连接顺序确定各个像素数据的顺序；

所述调试单元按照各个像素数据的顺序依次确定第一维度的子调试图像数据、第二维度的子调试图像数据以及第三维度的子调试图像数据。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述调试单元根据所述调试图像数据确定运行异常的各子目标单元以及运行异常的各子目标单元的异常原因，包括：

所述调试单元根据所述调试图像数据以及已训练的神经网络模型确定运行异常的各子目标单元以及运行异常的各子目标单元的异常原因，所述神经网络模型是根据历史调试图像数据进行训练的，所述历史调试图像数据至少是根据运行异常的各历史子目标单元的历史调试输出数据以及运行正常的各历史子目标单元的历史调试输出数据确定的。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述调试单元获取目标单元中各个子目标单元的调试输出数据前，还包括：

所述调试单元确定所述目标单元中的模式寄存器的数值为预设数值，所述目标单元中的模式寄存器的数值是所述目标单元在确定存在异常子目标单元后，将所述模式寄存器的原数值进行更新得到的。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述调试单元根据所述调试图像数据确定运行异常的各子目标单元以及运行异常的各子目标单元的异常原因后，还包括：

所述调试单元使用一组寄存器来保存每个运行异常的子目标单元的异常事件，每个寄存器保存所述异常事件中的一个异常信息，所述异常事件至少包括异常原因信息以及异常事件发生时间信息。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述调试单元使用一组寄存器来保存每个运行异常的子目标单元的异常事件后，还包括：

所述调试单元触发中断，所述中断表征所述调试单元调试完成。

10.根据权利要求1～9任一所述的方法，其特征在于，所述运行异常的各子目标单元对应至少一个异常原因。