[发明专利]量化校正算法精度的方法和装置有效
申请号: | 201910848950.2 | 申请日: | 2019-09-09 |
公开(公告)号: | CN110728634B | 公开(公告)日: | 2022-05-24 |
发明(设计)人: | 刘钦 | 申请(专利权)人: | 北京迈格威科技有限公司 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00;G06T5/50 |
代理公司: | 北京钲霖知识产权代理有限公司 11722 | 代理人: | 冯志云;李志新 |
地址: | 100190 北京市海淀区科*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 量化 校正 算法 精度 方法 装置 | ||
1.一种量化校正算法精度的方法,其特征在于,所述方法包括:
获取步骤,获取原始图像,其中,所述原始图像为相机镜头拍摄包括一个或多个标准球体的场景而形成的图像,所述场景包括第一场景或第二场景,所述第一场景中均匀分布多个所述标准球体,在所述原始图像中所述标准球体的图像均匀分布于所述原始图像边缘,所述第二场景的边缘放置一个标准球体,通过所述相机镜头拍摄所述第二场景得到多个拍摄图像,将多个所述拍摄图像融合得到所述原始图像,其中,多个所述拍摄图像对应的多个所述第二场景中的所述标准球体位于所述边缘的不同位置;
校正步骤,基于待评测校正算法,校正所述原始图像,以得到校正图像;
分析步骤,提取所述校正图像中的所述标准球体的一个或多个校正形状,得到一个或多个所述校正形状的圆形度,并根据所述一个或多个所述校正形状的圆形度,得到所述待评测校正算法的精度。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述一个或多个所述校正形状的圆形度,得到所述待评测校正算法的精度包括:
根据所述一个或多个所述校正形状的圆形度,得到一个或多个所述校正形状的畸变度;
基于所述一个或多个畸变度,确定所述待评测校正算法的精度。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述多个畸变度,确定所述待评测校正算法的精度包括:
基于多个所述畸变度的平均值或标准差,确定所述待评测校正算法的精度。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
所述相机镜头为超广角相机镜头;
所述原始图像为所述超广角相机镜头拍摄包括一个或多个标准球体的场景而形成的图像。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,
所述超广角相机镜头拍摄所述场景的距离为0.5米~2米。
6.一种量化校正算法精度的装置,其特征在于,所述装置包括:
获取模块,用于获取原始图像,其中,所述原始图像为相机镜头拍摄包括一个或多个标准球体的场景而形成的图像,所述场景包括第一场景或第二场景,所述第一场景中均匀分布多个所述标准球体,在所述原始图像中所述标准球体的图像均匀分布于所述原始图像边缘,所述第二场景的边缘放置一个标准球体,通过所述相机镜头拍摄所述第二场景得到多个拍摄图像,将多个所述拍摄图像融合得到所述原始图像,其中,多个所述拍摄图像对应的多个所述第二场景中的所述标准球体位于所述边缘的不同位置;
校正模块,用于基于待评测校正算法,校正所述原始图像,以得到校正图像;
分析模块,用于提取所述校正图像中的所述标准球体的一个或多个校正形状,得到一个或多个所述校正形状的圆形度,并根据所述一个或多个所述校正形状的圆形度,得到所述待评测校正算法的精度。
7.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:
存储器,用于存储指令;以及
处理器,用于调用所述存储器存储的指令执行权利要求1-5中任一项所述量化校正算法精度的方法。
8.一种计算机可读存储介质,其特征在于,
所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令,所述计算机可执行指令在由处理器执行时,执行权利要求1-5中任一项所述量化校正算法精度的方法。
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