[发明专利]一种触控面板和应用于触控面板的触摸探测方法

权利要求书

1.一种触控面板，其特征在于，存储单元中存储有触摸屏上各触控探测点对应的基准值RB、校准值ΔR和触摸屏黑屏状态下各触控探测点对应的显示单元的亮度LB；基准值RB为触摸屏黑屏状态下的触控探测点的寄生电容容值；

MCU用于获取触摸屏当前显示画面中各触控探测点对应的显示单元的亮度PW，触控探测点对应的显示单元的亮度为触控探测点所包含的M个显示像素的平均亮度；

MCU还用于结合校准值ΔR、亮度LB和亮度PW计算触控探测点的补偿值，并计算各触控探测点的电容真差，电容真差＝实测值-基准值-补偿值；

MCU用于根据触控探测点的电容真差与预设的检测阈值的比较结果判断触控探测点是否被触摸。

2.如权利要求1所述的触控面板，其特征在于：

其中，RW为触摸屏白屏状态下的触控探测点的寄生电容容值，LW为触摸屏白屏状态下触控探测点对应的显示单元的亮度。

3.如权利要求2所述的触控面板，其特征在于，补偿值计算模型为：

Δrawdata＝ΔR×(PW-LB)。

4.如权利要求1所述的触控面板，其特征在于，基准值RB、校准值ΔR和亮度LB均存储在Flash或者OTP中。

5.一种应用于触控面板的触摸探测方法，其特征在于，包括：

S1、获取触摸屏黑屏状态下的各触控探测点的寄生电容容值作为基准值，并获取触摸屏白屏状态下的各触控探测点的寄生电容容值作为参考值；

S2、获取触摸屏白屏状态下各触控探测点对应的显示单元的亮度和触摸屏黑屏状态下触控探测点对应的显示单元的亮度；触控探测点对应的显示单元的亮度为触控探测点所包含的M个显示像素的平均亮度；

S3、计算各触控探测点的校准值ΔR；

其中，RW为参考值，RB为基准值，LW为触摸屏白屏状态下触控探测点对应的显示单元的亮度，LB为触摸屏黑屏状态下触控探测点对应的显示单元的亮度；

S4、结合触摸屏在当前显示画面中触控探测点对应的显示单元的亮度，对触控探测点的校准值进行线性处理，获取触控探测点的补偿值；

S5、获取触摸屏在当前显示画面中触控探测点的寄生电容容值作为实测值，并计算触控探测点的电容真差，电容真差＝实测值-基准值-补偿值；

S6、将触控探测点的电容真差与预设的检测阈值比较，并根据比较结果判断触控探测点是否被触摸。

6.如权利要求5所述的应用于触控面板的触摸探测方法，其特征在于，步骤S1具体为：将触摸屏配置为黑画面，通过控制面板的CB自校准过程对各触控探测点进行CB校准，获取各触控探测点的基准值；然后将触摸屏配置为白画面，通过控制面板扫描分别读取各触控探测点的寄生电容容值作为参考值。

7.如权利要求5所述的应用于触控面板的触摸探测方法，其特征在于，步骤S4中，补偿值的计算模型为：

Δrawdata＝ΔR×(PW-LB)；

其中，PW为触摸屏当前显示画面中各触控探测点对应的显示单元的亮度。