[发明专利]用于激光脉冲对比度测量的四阶自相关仪在审
| 申请号： | 201910796458.5 | 申请日： | 2019-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN110530533A | 公开（公告）日： | 2019-12-03 |
| 发明（设计）人： | 刘军;王鹏;申雄;李儒新 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00 |
| 代理公司： | 31317 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) | 代理人： | 张宁展<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 自相关 测量 四阶 自相关仪 脉冲 数据采集与处理装置 激光脉冲对比度 对比度提升 对比度信息 三阶非线性 时间分辨率 产生装置 高对比度 激光脉冲 应用研究 分束片 取样光 小脉冲 信号光 配给 简并 引入 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于激光脉冲对比度测量的四阶自相关仪，特征在于其构成包括分束片(1)、基于简并三阶非线性取样光产生装置(2)、自相关装置(3)、数据采集与处理装置(4)，上述元部件的位置关系如下：
入射光经过所述的分束片(1)分成反射光和透射光，所述的反射光作为待测光，所述的透射光经过所述的基于简并三阶非线性取样光产生装置(2)获得高能量高对比度的取样光，所述的待测光和取样光在所述的自相关装置(3)中相互作用获得四阶自相关信号光，所述的四阶自相关信号光被所述的数据采集与处理装置(4)接收处理，获得所述待测光的对比度信息。
2.根据权利要求1所述的四阶自相关仪，其特征在于所述的基于简并三阶非线性取样光产生装置(2)，可以利用交叉偏振波产生、自衍射，以及瞬态光栅等简并四波混频过程来实现，所获得取样光的中心频率与入射光的中心频率一致，而且对比度理论上是入射光对比度的三次方。
3.根据权利要求1所述的四阶自相关仪，其特征在于所述的自相关装置(3)利用二阶非线性过程非共线和频来实现，自相关过程时间延迟的提供可以通过单发或者延迟扫描的方式。
4.根据权利要求1所述的四阶自相关仪，其特征在于所述的数据采集与处理装置(4)为二维阵列成像元件或者光电转换探头。
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