[发明专利]原子尺度应变计算方法和原子尺度应变计算装置有效
申请号: | 201910793669.3 | 申请日: | 2019-08-27 |
公开(公告)号: | CN110487225B | 公开(公告)日: | 2020-10-23 |
发明(设计)人: | 陈劲松;翟煜;刘悦;范同祥 | 申请(专利权)人: | 上海交通大学 |
主分类号: | G01B15/06 | 分类号: | G01B15/06 |
代理公司: | 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294 | 代理人: | 董琳 |
地址: | 200030 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 原子 尺度 应变 计算方法 计算 装置 | ||
1.一种原子尺度应变计算方法,其特征在于,包括:
提供分析对象的电镜照片;
定位待分析区域内各原子位置;
根据晶体结构特征,将原子划分为不同的特征层,将原子划分为不同的特征层的方法包括:根据晶格结构的特征,选择至少一种重复晶胞基本单元,以所述重复晶胞基本单元内任一原子与相邻原子之间的距离作为所述重复晶胞基本单元的特征距离;自所述重复晶胞基本单元内任一原子开始,根据所述特征距离进行原子搜索,获得所有与该重复晶胞基本单元对应的周围环境相同的原子;
对不同特征层内原子分别进行应变计算。
2.根据权利要求1所述的原子尺度应变计算方法,其特征在于,定位待分析区域内的各原子位置之前,还包括:对所述电镜照片进行预处理,获得清晰且具有高衬度的原子像。
3.根据权利要求1所述的原子尺度应变计算方法,其特征在于,对不同特征层内原子分别进行应变计算的方法包括:对不同特征层内原子,分别确定原子对以及参考区域内原子对的基本矢量,所述参考区域为没有发生晶格畸变的区域;获取待分析原子对内原子位置;根据所述基本矢量以及发生畸变后的原子位置获得待分析原子对内各原子的偏移矢量;根据所述偏移矢量计算待分析原子对内中心原子的应变张量;对不同特征层内每个原子进行应变计算,得到全场应变量。
4.根据权利要求3所述的原子尺度应变计算方法,其特征在于,所述确定原子对的方法包括:将中心原子以及该中心原子沿着基本矢量方向上的最邻近的两个以上原子作为原子对。
5.根据权利要求1所述的原子尺度应变计算方法,其特征在于,还包括:对应变计算结果进行修正,得到连续应变场。
6.一种原子尺度应变计算装置,其特征在于,包括:
存储器和至少一个处理器;
所述存储器用于存储计算机可读指令;
所述至少一个处理器用于执行所述存储器中的所述计算机可读指令从而执行以下操作:
获取分析对象的电镜照片;
定位待分析区域内各原子位置;
根据晶体结构特征,将原子划分为不同的特征层,将原子划分为不同的特征层的方法包括:根据晶格结构的特征,选择至少一种重复晶胞基本单元,以所述重复晶胞基本单元内任一原子与相邻原子之间的距离作为所述重复晶胞基本单元的特征距离;自所述重复晶胞基本单元内任一原子开始,根据所述特征距离进行原子搜索,获得所有与该重复晶胞基本单元对应的周围环境相同的原子;
对不同的特征层内的原子分别进行应变计算。
7.根据权利要求6所述的原子尺度应变计算装置,其特征在于,所述处理器还用于在定位待分析区域内各原子位置之前,对所述电镜照片进行预处理,获得清晰且具有高衬度的原子像。
8.根据权利要求6所述的原子尺度应变计算装置,其特征在于,所述对不同的特征层原子分别进行应变计算的包括:对不同特征层内原子,分别确定原子对以及参考区域内原子对的基本矢量,所述参考区域为没有发生晶格畸变的区域;获取待分析原子对内原子位置;根据所述基本矢量以及发生畸变后的原子位置获得待分析原子对内各原子的偏移矢量;根据所述偏移矢量计算待分析原子对内中心原子的应变张量;对不同特征层内每个原子进行应变计算,得到全场应变量。
9.根据权利要求8所述的原子尺度应变计算装置,其特征在于,所述确定原子对的方法包括:将中心原子以及该中心原子沿着基本矢量方向上的最邻近的两个以上原子作为原子对。
10.根据权利要求6所述的原子尺度应变计算装置,其特征在于,所述处理器还用于对应变计算结果进行修正,得到连续应变场。
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