[发明专利]一种基于近红外反射光谱的绿泥石矿物种类鉴定方法有效
申请号: | 201910741712.1 | 申请日: | 2019-08-12 |
公开(公告)号: | CN110618106B | 公开(公告)日: | 2022-04-01 |
发明(设计)人: | 杨敏;徐友宁;周宁超;陈华清;柯海玲;叶美芳;董会;刘三 | 申请(专利权)人: | 中国地质调查局西安地质调查中心 |
主分类号: | G01N21/359 | 分类号: | G01N21/359;G01N21/3563 |
代理公司: | 西安长和专利代理有限公司 61227 | 代理人: | 黄伟洪 |
地址: | 710054 陕西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 红外 反射 光谱 石矿 物种 鉴定 方法 | ||
本发明属于绿泥石矿物鉴定技术领域,公开了一种基于近红外反射光谱的绿泥石矿物种类鉴定方法,通过无损表面测量获取野外绿泥石矿物的近红外反射光谱;对光谱数据的平滑去噪处理,采用高斯‑洛伦兹函数拟合进行特征吸收峰位置的确定;近红外反射光谱数据在数据处理终端中进行光谱曲线平滑数据预处理,经过光谱数据平滑环节的曲线进行特征吸收峰的分峰拟合与定位;依据特征吸收峰位置与绿泥石铁含量的线性统计关系,按照特征吸收峰位置快速鉴定绿泥石矿物的亚种类别。本发明可使野外工作人员实时得到蚀变带中绿泥石矿物的亚种信息,缩短了实验室岩矿鉴定所需的时间,节省了样品制备的步骤,省时省力,同时节省了经费。
技术领域
本发明属于绿泥石矿物鉴定技术领域,尤其涉及一种基于近红外反射光谱的绿泥石矿物种类鉴定方法。
背景技术
目前,绿泥石矿物富铁贫镁和富镁贫铁亚种鉴定主要依赖电子探针微区分析:电子探针仪借助于细聚焦电子束,对样品表面进行照射,由此使得试样元素的X射线被激出,接着使用波长色散谱检测设备,以及计数系统,对该射线的波长、强度等进行检测,于是便能得到相应试样的元素种类与比例。对该射线的波长,或者特征能量进行分析,便能得到该试样的具体元素,这属于典型的定性分析,而结合该射线的强度,便能获得相应元素的比例,这属于典型的定量分析。这种检测装置的镜筒元件,其构造与电子显微镜基本一致。只是在检测装置环节,运用了X射线谱装置,并借助于它,对该射线的特征波长与能量进行检测,这样便能对微区的化学成分展开分析。所以,除却专门电子探针装置之外,还可以将其用作附件,配置于扫描或者透射电镜的镜筒之上,进而更好满足微区组织形貌、化学构成、晶体结构的综合性分析需求。而且这种分析模式,无需破碎试样,而且它的分析直径与深度,通常都会超过1微米,且原子系数超过4之上的各种元素。然而,如果元素的序数低于12,那么该检测装置就缺乏相应的灵敏度。该装置在常规检测中,其相对敏感度可以达到万分之一,部分环境更是高达十万分之一。检测的绝对灵敏度,则会因为元素的不同而有所差异,通常在10-14以及10-16g。借助于该方法,能够对元素从点、面、线这三个视角进行分析,如果原子序数超过10,且比例超过10.0%的元素,其定量分析的精度,可以超过正负2.0%。
现有电子探针设备最早应用于金属领域。主要是对合金中,诸多组成相、杂物等元素进行定性与定量分析,而且还能得出元素的扩散与偏析等问题。此外,它在金属材质氧化与腐蚀问题领域也得到广泛应用,可以对镀层、薄膜厚度以及成分进行相应的测量,另外,该装置还是遴选工艺、特种材料分析、机械部件失效分析等常用的一种方式。利用该分析法,就能得到样品的化学构成,以及诸多元素的重量百分数。在具体分析之前,还需要结合实验目的,制备对应的样品,同时还需要使之表面具有一定的清洁度。借助于波谱仪对样品进行分析时,需要确保样品具有平整度,否则会影响X射线的强度。
目前的电子探针设备存在的问题是:
(1)现有电子探针设备属于实验室大型仪器,精确度很高,但不能进行野外现场测试,电子探针设备也无法进行小型化设计。
(2)现有电子探针测试的样品需要磨制探针薄片,不能直接进行原样测试。
(3)现有技术中,没有利用近红外反射光谱进行矿物亚类细分的方法;不能使野外工作人员实时得到蚀变带中绿泥石矿物的亚种信息,实验室岩矿鉴定耗时耗力,不能节省样品制备的步骤,造成经费成本高。
(4)现有野外现场进行矿物亚类无法识别。
解决上述技术问题的难度:电子探针仪器结构精密且复杂,包括电子枪、聚焦与加速原件、X射线检测装置、真空样品室等。因此,直接尝试将电子探针仪器微型化的方案是不可行的。便携式近红外光谱仪是近10年新开发的现场光谱测试仪器,能够满足野外现场测试分析的需求,对于层状硅酸盐矿物类质同象置换离子的种类和含量具有比较灵敏的反映。因此,利用便携式近红外光谱设备研发绿泥石矿物富镁贫铁和富铁贫镁亚种识别方法是可行的。
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