[发明专利]测试屏体及有机封装体的评估方法

说明书

本发明涉及一种测试屏体及有机封装体的评估方法，用于测试有机封装体对有机发光二极管的危害性评估，测试屏体包括阵列基板、有机发光二极管器件、封装结构及阻隔层，封装结构与阵列基板之间形成封装空腔，有机发光二极管器件位于封装空腔内，有机发光二极管器件背离阵列基板的一侧设置有机封装体，阻隔层完全覆盖有机封装体设置，至少使有机封装体及与所述有机封装体层叠的有机发光二极管与外界环境隔离。本发明实施例提供的测试屏体可以直接放置于利于活化有机封装体的预设环境中，对测试屏体老化处理后，对测试屏体进行测试，能够根据测试结果评估出有机封装体对有机发光二极管屏体的危害性。

技术领域

本发明涉及有机发光二极管技术领域，尤其涉及一种测试屏体及有机封装体的评估方法。

背景技术

有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode，OLED)显示器具有成本低、视角宽、驱动电压低、响应速度快、发光色彩丰富、制备工艺简单、可实现大面积柔性显示等优点，被认为是最具发展前景的显示技术之一

对有机发光二极管的封装是将发光器件与外界环境隔离，以防水分、有害气体(氧气等)、尘埃及射线的侵入并防止外力损伤，稳定器件的各项参数，进而提高有机发光二极管的使用寿命。

目前主要采用的封装技术有：适合硬屏小尺寸屏体封装的Frit封装技术；以及，适合超薄及柔性OLED的薄膜封装技术。

在薄膜封装技术中，常使用有机薄膜和无机薄膜的复合膜作为封装层，其中，在显示器使用过程中有机薄膜会释放出气体，部分气体对有机发光二极管器件具有危害性，影响显示器寿命、显示效果，并且不同有机材料制成的有机薄膜对有机发光二极管器件的危害程度也不相同。

因此，薄膜封装技术中有机材料的选择尤为重要，如何提供一种有效评估有机材料对有机发光二极管显示器的危害性的方法是目前亟需解决的问题。

发明内容

本发明实施例提供了一种测试屏体及有机封装体的评估方法，可以直接将测试屏体放置于利于活化有机封装体的预设环境中，对测试屏体老化处理后，对测试屏体进行测试，能够根据测试结果评估出有机封装体对有机发光二极管屏体的危害性。

一方面，根据本发明实施例提供了一种测试屏体，用于测试有机封装体对有机发光二极管的危害性评估，测试屏体包括阵列基板、有机发光二极管器件、封装结构及阻隔层。封装结构与阵列基板之间形成封装空腔，有机发光二极管器件位于封装空腔内，有机发光二极管器件背离阵列基板的一侧设置有机封装体，阻隔层完全覆盖有机封装体设置，至少使有机封装体及与有机封装体层叠的有机发光二极管与外界环境隔离。

根据本发明实施例提供的测试屏体，有机封装体设置于有机发光二极管器件背离阵列基板的一侧、放置在封装结构与阵列基板之间形成的封装空腔内作为测试屏体，进行有机封装体对有机发光二极管的危害性评估，进而将有机封装体及有机发光二极管与外界环境隔离，避免外界环境中的水分、有害气体、尘埃及射线的侵入，稳定测试屏体在测试过程中的各项参数，以进一步提高评估结果的准确性。

根据本发明实施例的一方面，有机封装体在阵列基板上的投影面积小于有机发光二极管器件在阵列基板上的投影面积。

根据本发明实施例的一方面，测试屏体具有多个测试区域，各测试区域均单独设置有机封装体，阻隔层覆盖多个测试区域设置；优选的，对应各测试区域设置的有机封装体相互之间材料相异。

对应各个测试区域设置不同的有机封装体，在同等测试环境下对多个有机封装体对有机发光二极管的危害性评估，不仅能够提高效率，还能在同等测试环境下进行不同的有机封装体对有机发光二极管的危害性评估，提高测试结果的准确性。

根据本发明实施例的一方面，封装空腔内设置有除湿器件。

根据本发明实施例的一方面，封装结构包括盖板和连接胶层，盖板与阵列基板相对设置，并通过连接胶层连接；优选的，连接胶层与阵列基板的衬底连接。