[发明专利]测试屏体及有机封装体的评估方法

权利要求书

1.一种测试屏体，用于测试有机封装体对有机发光二极管的危害性评估，其特征在于，所述测试屏体包括阵列基板、有机发光二极管器件、封装结构及阻隔层；其中，

所述封装结构与所述阵列基板之间形成封装空腔，所述有机发光二极管器件位于所述封装空腔内；

所述有机发光二极管器件背离所述阵列基板的一侧设置有机封装体；

所述阻隔层完全覆盖所述有机封装体设置，至少使所述有机封装体及与所述有机封装体层叠的有机发光二极管与外界环境隔离。

2.根据权利要求1所述的测试屏体，其特征在于，所述有机封装体在所述阵列基板上的投影面积小于所述有机发光二极管器件在所述阵列基板上的投影面积。

3.根据权利要求1所述的测试屏体，其特征在于，所述测试屏体具有多个测试区域，各所述测试区域均单独设置有机封装体，所述阻隔层覆盖所述多个测试区域设置；

优选的，对应各所述测试区域设置的所述有机封装体相互之间材料相异。

4.根据权利要求1所述的测试屏体，其特征在于，所述封装空腔内设置有除湿器件。

5.根据权利要求1所述的测试屏体，其特征在于，所述封装结构包括盖板和连接胶层，所述盖板与所述阵列基板相对设置，并通过所述连接胶层连接；优选的，所述连接胶层与所述阵列基板的衬底连接。

6.一种有机封装体的评估方法，所述有机封装体用于有机发光二极管屏体的封装，其特征在于，所述评估方法包括以下步骤：

提供测试屏体，所述测试屏体为权利要求1至5任一项所述的测试屏体；

将所述测试屏体放置于利于活化所述有机封装体的预设环境中，对所述测试屏体老化处理；

对所述测试屏体施加电压，点亮所述测试屏体进行测试；

定时采集所述测试屏体上出现的能够反映所述有机封装体对所述测试屏体影响的指标参数；

根据所采集的所述指标参数对所述有机封装体进行评估。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述定时采集所述测试屏体上出现的能够反映所述有机封装体对所述测试屏体影响的指标参数的步骤中：

所述指标参数为在所述测试屏体上出现斑点的时长、预定时间内出现的斑点个数、预定时间内出现的斑点的面积、及预定时间内斑点的面积增长速率中的至少一种。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述定时采集所述测试屏体上出现的能够反映所述有机封装体对所述测试屏体影响的指标参数的步骤中：

所述指标参数为在所述测试屏体的测试区域出现斑点的时长、预定时间内出现的斑点个数、预定时间内出现的斑点的面积、及预定时间内斑点的面积增长速率中的至少一种。

9.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述根据所采集的所述指标参数对所述有机封装体进行评估的步骤中：

获取预设的指标参数与评级等级对应关系，根据所述对应关系和所采集的所述指标参数得到对所述有机封装体的评估结果。

10.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述提供测试屏体的步骤包括：

提供母基板，母基板包括形成有显示面板的第一区域和形成有测试面板的第二区域，所述第二区域位于所述第一区域外周侧；

切割所述母基板得到测试面板，所述测试面板包括所述阵列基板、所述有机发光二极管器件、所述有机封装体及阻隔层；

在所述测试面板的周侧衬底上形成封装结构，在所述封装结构与所述阵列基板之间形成封装空腔，以使所述有机发光二极管器件位于所述封装空腔内，得到测试屏体；

或者，

提供显示面板，所述显示面板包括所述阵列基板、所述有机发光二极管器件、所述有机封装体及阻隔层；

在所述显示面板的周侧衬底上形成封装结构，在所述封装结构与所述阵列基板之间形成封装空腔，以使所述有机发光二极管器件位于所述封装空腔内，得到测试屏体。