[发明专利]一种发射单元、传感模组及电子设备

权利要求书

1.一种发射单元，其特征在于，包括第一调制元件及检测处理器，所述第一调制元件包括第一电极、第二电极及设置在第一电极和第二电极之间的调制层，所述第一电极和第二电极用于对所述调制层施加电场，所述调制层能够随着所述电场的电场强度变化至少在透明状态和散射状态之间进行转换以对所透过的光线进行调制，所述检测处理器分别与第一电极和第二电极连接，所述检测处理器用于通过第一电极和第二电极检测第一调制元件的电学特性值并根据所测得的第一调制元件的电学特性值来判断所述第一调制元件是否破损。

2.如权利要求1所述的发射单元，其特征在于，还包括光源及第二调制元件，所述第二调制元件与所述光源相对设置，所述第一调制元件设置在第二调制元件背向光源的一侧，所述光源用于发出原始光线，所述第二调制元件用于将所述原始光线调制为结构光光线，所述第一调制元件用于对所述结构光光线进行调制，所述结构光光线可以透过处于透明状态的调制层进行投射，或者所述结构光光线经处于散射状态的调制层散射为泛光光线进行投射。

3.如权利要求2所述的发射单元，其特征在于，所述第二调制元件与第一调制元件之间直接连接或者间接连接。

4.如权利要求2所述的发射单元，其特征在于，所述第二调制元件贴合在所述第一调制元件上。

5.如权利要求1所述的发射单元，其特征在于，所述调制层选自正式聚合物分散液晶层、反式聚合物分散液晶层、聚合物网络液晶层及双稳态胆甾相液晶层中的任意一种。

6.如权利要求1所述的发射单元，其特征在于，所述第一调制元件的调制层处于透明状态时，透过所述第二调整元件的光线的雾度小于或等于10％。

7.如权利要求1所述的发射单元，其特征在于，所述第一调制元件的调制层处于散射状态时，透过所述第二调整元件的光线的雾度大于或等于70％。

8.如权利要求1所述的发射单元，其特征在于，所述检测处理器在发射单元进行投射前或投射后通过第一电极和第二电极施加检测电压至调制层进行电学特性值的检测；或者

所述检测处理器利用维持所述调制层处于透明状态或散射状态时所施加的电场进行电学特性值的检测。

9.如权利要求1所述的发射单元，其特征在于，所述第二调制元件为衍射光学元件。

10.如权利要求1所述的发射单元，其特征在于，所述第一调制元件的电学特性值包括电阻值和电容值。

11.如权利要求1所述的发射单元，其特征在于，所述检测处理器为比较电路，用于比较所测得的第一调制元件的电学特性值与预设的标准值，并根据比较结果判断所述第一调制元件是否破损。

12.如权利要求11所述的发射单元，其特征在于，所述预设的标准值为第一调制元件完好时所测得的电容值，若检测所得的第一调制元件的电容值与预设标准值的差值超出预设的误差范围，则所述检测处理器判断所述第一调制元件破损。

13.如权利要求1-12中任意一项所述的发射单元，其特征在于，所述光源与检测处理器相连接，所述检测处理器在判断出第一调制元件破损时关闭所述光源。

14.如权利要求1-12中任意一项所述的发射单元，其特征在于，还包括底座，所述底座上开设有多层台阶状的容置槽，所述容置槽包括底面，所述底面包括位于中间部分的连通部及围绕在连通部外围的支撑部，位于上层的容置槽在底面连通部所在区域向下开设出位于下层的容置槽，上层容置槽的连通部被挖空而形成下层容置槽的开口，所述第一调制元件固定连接在其中一层容置槽底面的支撑部上。