[发明专利]激光雷达接收芯片测试系统

权利要求书

1.一种激光雷达接收芯片测试系统，其特征是，包括MCU、激光发射器和待测的激光雷达接收芯片，还包括TDC芯片和DSP芯片；

激光发射器用于向目标物体发射激光；

激光雷达接收芯片至少包括感光器件，用于接收目标物体反射的光强信号，并转换为电信号；

TDC芯片用于将收到的感光器件的信号转换为计数值；

DSP芯片用于计算得到实际的激光飞行时间计数值cnt；

MCU 通过I2C接口配置激光雷达接收芯片寄存器，控制切换实现对激光雷达接收芯片内部的各模块进行功能测试；并将接收到的数据上传到计算机；

对感光器件功能测试时，由激光发射器向目标物体发射激光，感光器件接收到目标物体反射的光强信号转换为电信号，输出到TDC芯片，TDC芯片将转换后的记载距离信息的计数值输出至外部的DSP芯片，由DSP芯片经过直方图统计算法和移动平均算法处理得到实际的激光飞行时间计数值cnt和光强信息，并发送至MCU，经接口转换送入计算机。

2.根据权利要求1所述的激光雷达接收芯片测试系统，其特征是，激光雷达接收芯片中还包括TDC模块，用于将收到的感光器件的信号转换为计数值。

3.根据权利要求2所述的激光雷达接收芯片测试系统，其特征是，对感光器件和TDC模块功能测试时，由激光发射器向目标物体发射激光，感光器件接收到目标物体反射的光强信号转换为电信号，输出到TDC模块，TDC模块将转换后的记载距离信息的计数值输出至外部的DSP芯片，由DSP芯片经过直方图统计算法和移动平均算法处理得到实际的激光飞行时间TOF和光强信息，并发送至MCU，经接口转换送入计算机。

4.根据权利要求3所述的激光雷达接收芯片测试系统，其特征是，激光雷达接收芯片中还包括DSP模块，用于计算得到实际的激光飞行时间计数值cnt；

所述DSP模块至少包括直方图统计算法模块。

5.根据权利要求4所述的激光雷达接收芯片测试系统，其特征是，对感光器件、TDC模块及DSP模块中的直方图统计算法模块功能测试时，由激光发射器向目标物体发射激光，感光器件接收到目标物体反射的光强信号转换为电信号，输出到TDC模块，TDC模块将转换后的记载距离信息的计数值输出至DSP模块中的直方图统计算法模块，计算得到距离信息数据存储在激光雷达接收芯片的缓存中，并通过DVP接口输出至外部DSP芯片处理得到激光的飞行时间TOF和光强信息，发送至MCU，经接口转换送入计算机。

6.根据权利要求5所述的激光雷达接收芯片测试系统，其特征是，MCU通过I2C接口配置激光雷达接收芯片内部的寄存器，通过mux选择器选择启用TDC模块和DSP模块中的直方图统计算法模块，旁路掉DSP模块中的其它模块。

7.根据权利要求5所述的激光雷达接收芯片测试系统，其特征是，所述DSP模块至少还包括移动平均算法模块。

8.根据权利要求7所述的激光雷达接收芯片测试系统，其特征是，对TDC模块和DSP模块功能测试时，由激光发射器向目标物体发射激光，感光器件接收到目标物体反射的光强信号转换为电信号，输出到TDC模块，TDC模块将转换后的记载距离信息的计数值输出至DSP模块中的直方图统计算法模块，计算得出计数值的分布情况，并存入缓存，移动平均算法模块将缓存中的直方图统计算法模块存入的数据读出并计算得到激光的飞行时间TOF和光强信息通过SPI接口输出，通过数字图像接口DCMI送入MCU，经接口转换送入计算机PC。

9.根据权利要求1所述的激光雷达接收芯片测试系统，其特征是，由感光器件向激光发射器发出控制激光发射的开始信号和停止信号。