[发明专利]一种NAND Flash PHY有效
申请号: | 201910676720.2 | 申请日: | 2019-07-25 |
公开(公告)号: | CN110399319B | 公开(公告)日: | 2021-03-23 |
发明(设计)人: | 马勇;陈帮红;何觉;杨波;吴楚怀;唐先芝;谷卫青 | 申请(专利权)人: | 尧云科技(西安)有限公司 |
主分类号: | G06F13/16 | 分类号: | G06F13/16 |
代理公司: | 西安亿诺专利代理有限公司 61220 | 代理人: | 贺珊 |
地址: | 710000 陕西省西安市高新区鱼化街*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 nand flash phy | ||
1.一种NAND Flash PHY,其特征在于:结构包括
DQ通过DELAY_DQ送至IDDR GRP;
DQS通过DELAY_DQS0送至IDDR GRP;
使得DQ在经过DELAY_DQ、DQS经过DELAY_DQS0后产生DQS相对于DQ的90°相位延时;
IDDR GRP通过DQS捕获到正确的DQ过后,将DQ及生成的wdata送入到ASYNC FIFO中;另一方面,DELAY_DQS0后还设有二级延时单元DELAY_DQS1,经DELAY_DQS1二次延时后送至ASYNC FIFO作为ASYNC FIFO的wrclk;其中,DELAY_DQS0经DELAY_DQS0为DQS_90°,DELAY_DQS1为DQS_(invert(180°)+180°);
所述DELAY_DQS0通过DLL_DQS0实现控制,DELAY_DQS1通过DLL_DQS1实现控制;
所述DLL_DQS0及DLL_DQS1中的鉴相器的原理如下:
(1)将refclk 依次送入到N个delay tap单元中进行延时调节,每个delay tap单元由一个反相器构成,通过refclk对N个delay tap单元的输出进行采样,并存至每个delay tap单元对应的TAP REG中;
(2)将当前TAP REG(n)和下一个TAP REG(n+1)进行异或非操作,并将其结果送至delt寄存器delt(n)中,得到一个N位的delt码流;
(3)将此delt码流送至相位校验单元以计算delt码流中两个1之间0的个数,进而得到180°的相位延时。
2.根据权利要求1所述NAND Flash PHY,其特征在于:所述DELAY_DQS1的原理如下:
DQS的输入信号为delay in,通过相位校验单元计算得到N个sel信号延时后,DQS的输出信号即实现延时90°或者180°相位。
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