[发明专利]体声波谐振器的封装方法及封装结构在审
| 申请号: | 201910657418.2 | 申请日: | 2019-07-19 |
| 公开(公告)号: | CN112039459A | 公开(公告)日: | 2020-12-04 |
| 发明(设计)人: | 罗海龙 | 申请(专利权)人: | 中芯集成电路(宁波)有限公司上海分公司 |
| 主分类号: | H03H3/02 | 分类号: | H03H3/02;H03H9/02;H03H9/10;H03H9/15 |
| 代理公司: | 上海思捷知识产权代理有限公司 31295 | 代理人: | 王宏婧 |
| 地址: | 中国(上海)自由贸易试验*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 声波 谐振器 封装 方法 结构 | ||
1.一种体声波谐振器的封装方法,其特征在于,包括以下步骤:
提供谐振腔主体结构,所述谐振腔主体结构包括第一衬底以及形成在所述第一衬底上的体声波谐振结构,所述体声波谐振结构和所述第一衬底之间形成有第一空腔;
提供具有第二空腔的谐振器盖体,所述谐振器盖体包括具有凹槽的第二衬底以及覆盖在所述凹槽外围的所述第二衬底表面上的弹性键合材料层,所述第二空腔包括所述凹槽和所述弹性键合材料层所围的空间;
通过所述弹性键合材料层将所述谐振腔主体结构和所述谐振器盖体键合在一起并使得所述弹性键合材料层失去弹性,且键合后,所述体声波谐振结构夹在所述第一衬底和所述第二衬底之间且所述凹槽与第一空腔至少有部分对准;
形成穿过所述谐振器盖体并暴露出所述体声波谐振结构的相应的电连接部的穿通孔;以及,
形成导电互连层于所述穿通孔的表面以及所述穿通孔外围的部分所述谐振器盖体的表面上。
2.如权利要求1所述的体声波谐振器的封装方法,其特征在于,提供所述谐振器盖体的步骤包括:提供所述第二衬底,并去除部分所述第二衬底以形成所述凹槽;覆盖具有弹性的键合材料于所述第二衬底和所述凹槽的表面上;以及,图形化所述具有弹性的键合材料,以去除所述凹槽的侧壁和底壁上的键合材料,从而形成具有所述第二空腔的弹性键合材料层;或者,
提供所述谐振器盖体的步骤包括:提供所述第二衬底并在所述第二衬底上覆盖弹性键合材料层;依次图形化所述弹性键合材料层和部分厚度的所述第二衬底,以形成所述第二空腔。
3.如权利要求2所述的体声波谐振器的封装方法,其特征在于,所述弹性键合材料层的材料为光固化材料和/或热固化材料,能通过光照或加热后冷却的方式失去弹性。
4.如权利要求1所述的体声波谐振器的封装方法,其特征在于,所述弹性键合材料层为干膜。
5.如权利要求1所述的体声波谐振器的封装方法,其特征在于,所述体声波谐振结构包括靠近所述第一衬底的第一电极、位于所述第一电极上的压电层以及位于所述压电层上的第二电极。
6.如权利要求5所述的体声波谐振器的封装方法,其特征在于,所述电连接部包括:第一电连接部,包括伸出第一空腔的部分第一电极;第二电连接部,包括伸出第一空腔的部分第二电极。
7.如权利要求1所述的体声波谐振器的封装方法,其特征在于,所述体声波谐振结构在所述第一空腔外围的部分中具有暴露部分或全部的所述电连接部的开口;在所述谐振腔主体结构和所述谐振器盖体键合在一起时,所述弹性键合材料层的厚度能适应所述开口处的台阶高度而变化。
8.如权利要求1所述的体声波谐振器的封装方法,其特征在于,将所述谐振腔主体结构和所述谐振器盖体键合在一起之后且在形成所述穿通孔之前,对所述第二衬底进行减薄。
9.如权利要求1所述的体声波谐振器的封装方法,其特征在于,在形成所述导电互连层之后,还包括:形成图形化的钝化层,所述图形化的钝化层填满所述穿通孔并暴露出所述穿通孔外围的谐振器盖体表面上部分所述导电互连层,被暴露出的所述导电互连层形成导电接触垫。
10.如权利要求9所述的体声波谐振器的封装方法,其特征在于,所述钝化层和所述压电层的材质相同;或者,所述钝化层包括氧化硅、氮化硅、氮氧化硅、金属氮化物和聚合物中的至少一种材质。
11.如权利要求1所述的体声波谐振器的封装方法,其特征在于,提供所述谐振腔主体结构的步骤包括:
提供载体衬底,并依次形成用于制作体声波谐振结构的膜层和支撑层于所述载体衬底上;
刻蚀所述支撑层,以在所述支撑层中形成空腔;
提供所述第一衬底,并将所述第一衬底键合到所述支撑层上;以及,
去除所述载体衬底,以形成所述谐振腔主体结构。
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