[发明专利]一种用于IGBT单元的击穿检测方法

权利要求书

1.一种用于IGBT单元的击穿检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、预设基础电流变化次数；

S2、获取处于工作状态的IGBT单元在一个周期内的电流变化次数；

S3、判断处于工作状态的IGBT单元在一个周期内的电流变化次数是否等于所述基础电流变化次数；

S4、若否，则判定处于工作状态的IGBT单元有击穿；

所述获取处于工作状态的IGBT单元在一个周期内的电流变化次数的具体步骤为：

S21、预设基准电流值；

S22、依次采集所述IGBT单元在一个周期内的稳定电流值；

S23、将采集到的每一个稳定电流值分别与所述基准电流值作比较，得到对应的电流差值；

S24、依次判断连续的三个电流差值是否均大于预设变化阈值；

S25、若是，则记录IGBT单元的电流变化次数并存储当前的连续的三个稳定电流值，将所述当前的连续的三个稳定电流值中的最后一个的稳定电流值作为新的基础电流值；

还包括：

预设电流变化次数的初始值；

将连续的三个电流差值分别与所述基准电流值进行计算，得到三个电流差值，作为一组电流变化的判断依据；

若检测到一组的连续的三个电流差值均大于预设变化阈值，则将电流变化次数的初始值加一。

2.根据权利要求1所述的用于IGBT单元的击穿检测方法，其特征在于，所述IGBT单元包括IGBT1单元和IGBT2单元，所述IGBT1单元与所述IGBT2单元电连接；

获取处于工作状态的IGBT1单元和IGBT2单元在一个周期内的电流变化次数的具体步骤为：

预设基准电流值；

将所述一个周期分成第一区间和第二区间；

在第一区间内依次采集IGBT1单元的稳定电流值，在第二区间内依次采集IGBT2单元的稳定电流值；

将采集到IGBT1单元和IGBT2单元的每一个稳定电流值分别与预设基准电流值作比较，得到对应的电流差值；

依次判断IGBT1单元和IGBT2单元中连续的三个电流差值是否均大于预设变化阈值；

若是，则记录IGBT1单元和IGBT2单元的电流变化次数并存储IGBT1单元和IGBT2单元中当前的连续的三个稳定电流值，将所述IGBT1单元和IGBT2单元中当前的连续的三个稳定电流值中的最后采集到的一个稳定电流值分别作为所述IGBT1单元和IGBT2单元的新的基础电流值。

3.根据权利要求2所述的用于IGBT单元的击穿检测方法，其特征在于，在获取处于工作状态的IGBT1单元和IGBT2单元在一个周期内的电流变化次数后，还包括以下步骤：

判断处于工作状态的IGBT1单元和IGBT2单元在一个周期内的电流变化次数是否等于预设基础电流变化次数；

若处于工作状态的IGBT1单元在一个周期内的电流变化次数不等于预设基础电流变化次数，则判定IGBT1单元有击穿；

若处于工作状态的IGBT2单元在一个周期内的电流变化次数不等于预设基础电流变化次数，则判定IGBT2单元有击穿；

若处于工作状态的IGBT1单元和IGBT2单元在一个周期内的电流变化次数不等于预设基础电流变化次数，则判定IGBT1单元和IGBT2单元均有击穿。

4.根据权利要求1所述的用于IGBT单元的击穿检测方法，其特征在于，所述IGBT单元包括IGBT1单元和IGBT2单元，所述IGBT1单元与所述IGBT2单元电连接，所述IGBT单元在一个周期内的电流变化次数为1-4次，所述IGBT1单元在一个周期内的电流变化次数为1-2次，所述IGBT2单元在一个周期内的电流变化次数为1-2次。