[发明专利]基于微波反射技术的复合绝缘子护套偏芯度检测方法

权利要求书

1.一种基于微波反射技术的复合绝缘子护套偏芯度检测方法，其特征在于：它包括如下工艺步骤，

S1：确保微波信号能够正常的由飞秒激光源依次通过导波装置、交换端口和录波器，到达数据分析模块，并确保交换端口和被测试件之间能够正常的互相交换微波信号；

S2：对绝缘子串上个每个监测点进行检测，在绝缘子串上个每个监测点进行检测时，先通过飞秒激光源产生宽度为飞秒级别激光脉冲信号，接着通过导波装置将飞秒激光源产生的激光脉冲信号无损的传输到发射端，然后交换端口将发射端的入射信号α经过分波镜面后，分解为透射信号α1和反射信号α2，透射信号α2入射复合绝缘子材料后，会在其各个交界面上产生不同的反射回波波形，将所有反射回波总述为反射信号β。反射信号β经过分波镜面后分解为反射信号β1和透射信号β2，再接着录波器捕捉所述反射信号β2并上传至数据分析单元进行处理，最后数据分析模块通过对原始信号α及反射信号β2进行时域分析，根据时域信号的幅度能模拟计算出复合绝缘子在被测点的基本情况，从而进行厚度计算；

S3：每次检测时，在每个复合绝缘子上沿绝缘子串从高压侧至低压侧的护套上选取多个位置，分别对多个位置处的护套绕圆周隔30°测得12个点的反射波形，并结合上述步骤S2中模拟计算出的绝缘子串的厚度，计算出绝缘子的偏心度。

2.根据权利要求1所述基于微波反射技术的复合绝缘子护套偏芯度检测方法，其特征在于：所述透射信号α1和反射信号α2波形完全相同，强度各占原始入射信号α能量的50％；所述原始信号α及反射信号β2波形完全相同，强度各占反射信号β的50％。

3.根据权利要求1或2所述基于微波反射技术的复合绝缘子护套偏芯度检测方法，其特征在于：步骤S3包括如下工艺步骤，

S3.1：在绝缘子串1上选取多个测试位置；

S3.2：在对绝缘子串上的某处进行测试时，以绝缘子串某一待测位置处的圆周以30°为间隔，选取12个点的时域反射波，通过微波探头对绝缘子进行检测；

S3.3:获取绝缘子每一个监测点处保护套表面与截面信号的幅度，模拟计算出改点厚度；

S3.4：按照绝缘子偏心度的计算式计算每一个监测点的偏心度，其中绝缘子偏心度的计算式为：