[发明专利]一种反射式可控温激光激发远程荧光材料测试装置

说明书

本发明公开一种反射式可控温激光激发远程荧光材料测试装置，包括光学平台、积分球、光谱仪、激光二极管、控温平台、圆形滑轨和滑块，其中控温平台由铜板、TEC、散热器、温度传感器、风扇、驱动电源、导线、测温仪表组成。测试时，圆形滑轨放置在积分球右半部分，激光二极管放置于滑块上，通过滑块在圆形滑轨的移动，实现激光二极管与荧光材料角度的调节，光由激光二极管照射到放置荧光材料的控温平台，由光谱仪采集积分球内部的反射光。当荧光材料需要升温时，通过改变TEC电流升高温度，由测温仪表采集铜板表面温度；当荧光材料需要降温时，通过改变TEC电流降低温度，同时开启风扇，加速降温冷却过程，由测温仪表采集铜板表面温度。

技术领域

本发明属于半导体激光测试技术领域，具体涉及一种反射式可控温激光激发远程荧光材料测试装置。

背景技术

传统半导体白光照明主要采用蓝光LED芯片配合荧光粉的方式，但随着蓝光功率的不断上升，已出现日趋严重的发热和散热问题。近年激光二极管技术的发展，陆续出现蓝光激光和荧光转化材料配合的发光方案。作为第三代半导体照明领域的新一代技术，激光二极管照明有着超越LED照明的独特优势：长寿命、更高亮度、体积更小、光电转换效率更高、照射距离更长。而激光激发远程荧光材料的装置可以很好的测量反射率、透射率、准直透射率参数并且可以同时测试荧光材料的热稳定性现象。而目前还没有此类试验的实验装置，故设计一款可以测量反射光且测试荧光材料的热稳定性现象的装置是很有必要的。

发明内容

本发明的目的是针对现有技术存在的问题，提供一种反射式可控温激光激发远程荧光材料测试装置，该装置操作便捷，能够实现激光激发远程荧光材料的测试。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：

一种反射式可控温激光激发远程荧光材料测试装置，所述装置包括积分球、控温平台、光学平台、激光二极管、光谱仪、圆形滑轨和滑块，所述积分球放置在光学平台上，所述圆形滑轨固定于积分球右侧直径处，所述激光二极管通过滑块实现在圆形滑轨上的角度移动，光由激光二极管照射到放置荧光材料的控温平台，所述光谱仪采集积分球内部的反射光。

优选地，所述控温平台通过螺纹孔固定在光学平台上。所述光学平台设置为高精度且表面具有大小相等螺纹孔。

进一步地，所述积分球水平放置于光学平台上。

进一步地，所述激光二极管放置于积分球内部左端。

进一步地，所述光谱仪与积分球连接。

优选地，所述控温平台放置在积分球左侧，其放置荧光材料的一面贴合积分球。

优选地，所述圆形滑轨与滑块表面分别涂覆一层与积分球内壁一致的漫反射材料。

优选地，所述控温平台由铜板、TEC(Thermoelectric Cooler，半导体制冷片)、散热器、温度传感器、风扇、驱动电源、导线和测温仪表组成。

具体地，所述控温平台的驱动电源为TEC供电。所述测温仪表用于采集温度传感器的温度。

优选地，所述铜板中心涂覆导热胶，用于固定荧光材料。

优选地，所述温度传感器布置在铜板表面。

优选地，所述风扇固定在控温平台的左端。当需要降温时，开启风扇。

优选地，所述铜板中心采用抛光处理，使得光完全反射在积分球的内部。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明提供的装置可以在激光激发远程荧光材料的测试中，通过调节激光二极管与荧光材料的角度，采集不同角度下积分球内部的反射光，实现对反射率、透射率、准直透射率等参数的测试；另外，通过控温平台对荧光材料温度进行控制，实现对荧光材料热稳定性的测试。

附图说明